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研究人員發(fā)現(xiàn)3D NAND閃存蝕刻新工藝,內(nèi)存存儲(chǔ)密度與容量有望大幅提升

發(fā)布時(shí)間:2025-2-5 09:54    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 3D , NAND , 閃存蝕刻
據(jù)外媒報(bào)道,在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域取得了一項(xiàng)重要突破。研究人員成功發(fā)現(xiàn)了一種使用先進(jìn)的等離子工藝在3D NAND閃存中蝕刻深孔的更快、更高效的方法。這一創(chuàng)新不僅將蝕刻速度提高了一倍,還顯著提升了精度,為更密集、更大容量的內(nèi)存存儲(chǔ)奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

一直以來(lái),3D NAND閃存的技術(shù)發(fā)展對(duì)于提升內(nèi)存存儲(chǔ)的容量和密度具有至關(guān)重要的意義。然而,如何更有效地蝕刻深孔一直是行業(yè)內(nèi)面臨的一大挑戰(zhàn)。此次研究團(tuán)隊(duì)的新發(fā)現(xiàn)無(wú)疑為解決這一難題提供了關(guān)鍵思路。

這項(xiàng)研究是由來(lái)自 Lam Research、科羅拉多大學(xué)博爾德分校和美國(guó)能源部普林斯頓等離子體物理實(shí)驗(yàn)室 (PPPL) 的科學(xué)家通過(guò)模擬和實(shí)驗(yàn)進(jìn)行的。

在具體的研究過(guò)程中,研究人員通過(guò)對(duì)化學(xué)成分的精心調(diào)整,成功實(shí)現(xiàn)了蝕刻速度的大幅提升。具體而言,這種新方法的蝕刻速度相較于傳統(tǒng)工藝提高了一倍。這不僅意味著在相同的時(shí)間內(nèi)可以完成更多的蝕刻工作,大大縮短了生產(chǎn)周期,還有助于提高生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本,為3D NAND閃存的商業(yè)化應(yīng)用帶來(lái)了更廣闊的前景。



更為重要的是,除了蝕刻速度的提升,新方法還顯著提高了蝕刻的精度。在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,精度的重要性不言而喻。更高的蝕刻精度能夠確保每一個(gè)蝕刻的深孔都達(dá)到理想的結(jié)構(gòu)和特性,從而提高整個(gè)3D NAND閃存器件的性能和可靠性。這對(duì)于滿足日益增長(zhǎng)的消費(fèi)者對(duì)更密集、更大容量?jī)?nèi)存存儲(chǔ)設(shè)備的需求,具有極其重要的意義。

目前,隨著科技的飛速發(fā)展,人們對(duì)于存儲(chǔ)設(shè)備的容量和性能要求越來(lái)越高。從智能手機(jī)到超級(jí)計(jì)算機(jī),從物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備到人工智能系統(tǒng),都離不開(kāi)高效、大容量的內(nèi)存存儲(chǔ)支持。此次研究團(tuán)隊(duì)在3D NAND閃存蝕刻技術(shù)上的突破,為更密集、更大容量的內(nèi)存存儲(chǔ)奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
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