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電子元器件發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史。電子技術是十九世紀末、二十世紀初開始發(fā)展起來的新興技術，二十世紀發(fā)展最迅速，應用最廣泛，成為近代科學技術發(fā)展的一個重要標志。 由于社會發(fā)展的需要，電子裝置變的越來越復雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快、消耗功率小以及質(zhì)量輕、小型化、成本低等特點。自20世紀50年代提出集成電路的設想后，由于材料技術、器件技術和電路設計等綜合技術的進步，在20世紀60年代研制成功了第一代集成電路。在半導體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時代的意義：它的誕生和發(fā)展推動了銅芯技術和計算機的進步，使科學研究的各個領域以及工業(yè)社會的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革。憑借優(yōu)越的科學技術所發(fā)明的集成電路使研究者有了更先進的工具，進而產(chǎn)生了許多更為先進的技術。這些先進的技術有進一步促使更高性能、更廉價的集成電路的出現(xiàn)。對電子器件來說，體積越小，集成度越高；響應時間越短，計算處理的速度就越快；傳送頻率就越高，傳送的信息量就越大。半導體工業(yè)和半導體技術被稱為現(xiàn)代工業(yè)的基礎，同時也已經(jīng)發(fā)展稱為一個相對獨立的高科技產(chǎn)業(yè)。尤其需要一種能對電子元器件進行自動測試的系統(tǒng)。 
NSAT-2000 電子元器件自動測試系統(tǒng)特點： Ø 可實現(xiàn)對電源、LCR數(shù)字電橋、絕緣耐壓測試儀、電子負載、示波器、邏輯分析儀、數(shù)據(jù)采集器等測試儀器的并行控制。 Ø 所有儀器的連接可在硬件設置界面通過自動檢測的功能實現(xiàn)，并支持儀器更換品牌型號的兼容。 Ø 在進行環(huán)境應力測試與被測產(chǎn)品參數(shù)測試前用戶只需對儀器設備的參數(shù)進行設置，即可進入自動化測試。 Ø 測試系統(tǒng)滿足不同產(chǎn)品在環(huán)境應力實驗的同時進行多種參數(shù)的測試。 Ø 系統(tǒng)滿足在線測試的要求，提供多功能的對象適配模塊，使被測產(chǎn)品可固定可外接高頻耐高溫鍍銀線纜實現(xiàn)實時測試，且對象適配模塊兼容不同被測產(chǎn)品類型。 Ø 針對FPGA多達256引腳測試，系統(tǒng)采用引腳測試模塊與對象適配模塊的方式完成。可將芯片256路引腳接入外圍的引腳測試模塊中，并行測試結(jié)束后，用戶可更換引腳測試模塊的連接線至下一批測試的引腳，這樣順序執(zhí)行即可完成256路引腳測試。 Ø 系統(tǒng)不但運行時間長，而且能夠確保數(shù)據(jù)的準確性和運行的穩(wěn)定性。 Ø 系統(tǒng)提供用戶自定義報告模板的功能，實現(xiàn)報告的多樣化和靈活性。 NSAT-2000 電子元器件自動測試系統(tǒng)使用流程：
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軟件使用流程.png (652.9 KB)
