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DDR5時代即將來臨,泰克推出TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案

發(fā)布時間:2020-7-21 15:23    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: TekExpress , DDR5 , 發(fā)射機
工程師可以快速、經(jīng)濟、可靠地驗證和調(diào)試DDR5設(shè)計

泰克科技公司日前推出最新TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案,其改善了自動化程度,工程師可以克服各種DFE所帶來的分析挑戰(zhàn),采用用戶自定義采集和DDR5去嵌技術(shù)及串行數(shù)據(jù)鏈路分析(SDLA)技術(shù),滿懷信心地、高效地驗證和調(diào)試DDR5設(shè)計。

從增強現(xiàn)實、人工智能到云計算和物聯(lián)網(wǎng),5G正在推動著各種新興技術(shù)迅速增長,人們對容量更高、速度更快、能耗更低、尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高,DDR SRAM也不斷響應(yīng)市場需求,技術(shù)升級不斷推陳出現(xiàn),這使得DDR5比以往任何時候都更重要。DDR5內(nèi)存時代即將到來,頻率更高、功耗更低、速度更快,從入門級速度4800MHz到5200/5600MHz,未來兩年計算機、消費性產(chǎn)品市場將逐漸轉(zhuǎn)從DDR4過渡至DDR5。

快速存取數(shù)量龐大的存儲數(shù)據(jù),意味著復(fù)雜的設(shè)計正在挑戰(zhàn)信號完整性極限,要求性能更高的測量技術(shù)來完成一致性測試、調(diào)試和驗證。TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案是一種系統(tǒng)級自動測試應(yīng)用,用戶可以迅速、經(jīng)濟、可靠地驗證和調(diào)試DDR5設(shè)計,滿足JEDEC中所規(guī)定的50多種電接口和時序測量。

DFE分析

DDR4內(nèi)容目前還是絕對主流,但DDR5已經(jīng)完成了規(guī)范開發(fā),當(dāng)在存在符號間干擾(ISI)的情況下測試DDR5設(shè)計時,即使DDR3/4的最佳調(diào)試工具也是不夠用的。泰克DDR5系統(tǒng)級一致性測試軟件提供了各種自動化工具,克服了下一代DDR面臨的各種挑戰(zhàn),包括:
        Rx DFE均衡支持,在DDR5業(yè)務(wù)中進行寫入數(shù)據(jù)的眼圖測量;
        自動測量JEDEC中規(guī)定的50多種DDR5電接口和時序參數(shù);
        多種新算法,一致可靠地區(qū)分讀突發(fā)和寫突發(fā);
        全新一致性測試應(yīng)用架構(gòu),增強了自動化程度,縮短了測試時間,幫助更快地把設(shè)計推向市場。

調(diào)試和驗證

TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案把控制能力還到了工程師手中,它擁有用戶自定義采集模式,可以量身定制示波器設(shè)置,包括采樣率、記錄長度、帶寬等,來運行DDR5 JEDEC一致性測量。

泰克獨立式DDR5 DFE應(yīng)用可以整體控制DFE增益和4抽頭值,工程師可以運行內(nèi)部測試計劃,執(zhí)行測量關(guān)聯(lián)仿真,通過改變4抽頭值和增益值,微調(diào)仿真模型,進行假設(shè)分析。

SDLA

在對DDR5設(shè)計進行去嵌時,S參數(shù)的驗證通常是工程師擔(dān)心的主要問題。通過改善無源性校驗、端口分配和繪圖功能,串行數(shù)據(jù)鏈路分析(SDLA)技術(shù)增強了對S參數(shù)文件的驗證,改善了靈活性,提高了對去嵌流程的信心,節(jié)省了時間。其他的調(diào)試軟件工具要求用戶在完成整個流程后才能得到結(jié)果,而TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案則不同,用戶可以提前檢測到問題,更高效地調(diào)試和優(yōu)化設(shè)計。

泰克TekExpress DDR5發(fā)射機解決方案現(xiàn)已在全球范圍內(nèi)上市,https://www.tek.com.cn/memory-technologies。7月24日(周五)泰克線上直播課程【DDR5規(guī)范解析及測試難點剖析】將為工程師帶來最新規(guī)范解析、測試難點剖析及泰克DDR5自動化測試方案,掃碼進行報名。



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