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來源：全球半導體觀察 存儲器是電子信息處理系統(tǒng)中不可或缺的組成部分。在過去，依靠CMOS工藝的不斷進步，存儲器的性能得以不斷提高。 但近年來，一方面，尺寸微縮導致的晶體管漏電問題越來越嚴重，在增大存儲器功耗的同時，惡化了存儲單元的保持特性，存儲器的發(fā)展遇到較為明顯的瓶頸；另一方面，人工智能和物聯(lián)網(wǎng)等領域的快速發(fā)展又對存儲器的容量速度以及功耗等性能指標提出了更高的要求。 在這樣的背景下，由于嵌入式鐵電隨機存取存儲器(Embedded Ferroelectric Random Access Memory，eFeRAM)具有非易失、高密度、低功耗以及讀取速度快等特點，可提高系統(tǒng)的整體性能，因此，嵌入式鐵電隨機存取存儲在近年來備受關注。 近日，北京大學公開了一項名為“一種鐵電隨機存取存儲器陣列及其控制方法”的專利，公開號CN117672288A，申請時間為2023年12月15日。 該據(jù)國家知識產(chǎn)權局公告的高專利摘要顯示，該發(fā)明提供了一種鐵電隨機存取存儲器陣列及其控制方法，屬于半導體存儲器技術領域。 該發(fā)明包括由基本陣列沿橫向、縱向重復排列而成的總體陣列，基本陣列包括存儲單元、字線、控制線、基本板線、總體板線、基本位線和總體位線，由存儲單元沿橫向、縱向重復排列成矩陣結構；存儲單元包括一個晶體管和一個鐵電電容器，晶體管的柵極接字線、漏極接位線、源極接鐵電電容器上極板，鐵電電容器下極板接板線。 該發(fā)明還提供了對該鐵電隨機存取存儲器陣列進行數(shù)據(jù)寫入、數(shù)據(jù)讀出和數(shù)據(jù)重寫的控制方法。此外，該發(fā)明層次化的設計方法，可以在不犧牲讀出時間與讀出窗口的前提下，增大鐵電隨機存取存儲器陣列的規(guī)模。 |
