自從IR(INTERNATIONAL RECTIFIED國際整流器公司)發(fā)明了第一個MOSFET(METAL OXIDE SEMICONDUCTOR FIELD EFFECT TRANSISTOR金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管)以來,MOSFET的性能的不斷提高,其在各種應(yīng)用領(lǐng)域得以大量使用;鑒于MOSFET的各種優(yōu)良特性和良好的前景,各大電子元器件廠家紛紛投入大的人力研發(fā)自己的專利技術(shù)。IR的Direct FET™技術(shù),Infineon Cool MOS的S-FET™技術(shù),AATI的TrenchDMOS™…;伴隨之而來的專利的封裝技術(shù)。研發(fā)的重點依然在Rds(ON)的降低,柵極總電荷Qg的減少等。 而雙極性晶體管“似乎”被人們越來越“看不起”,被很多人看作是“舊技術(shù)”;甚至有人斷言:不久的將來,MOSFET將完全取代BIPOLAR TRANSISTOR,尤其當需要高速度,高效率的時候。這種觀點是站不住腳 的;首先,我們可以理解新技術(shù)的產(chǎn)生對業(yè)界產(chǎn)生的推動以及帶來新的設(shè)計線路和設(shè)計方法;但是沒有一種元器件、一種設(shè)計方法可以滿足所有的應(yīng)用。其次,需要看到雙極性晶體管也在向更高性能不斷發(fā)展,在某些領(lǐng)域同樣有著不可替代的作用。比如ZETEX,不斷的推出新的高性能的BIPOLAR TRANSISTOR,每一種元器件和技術(shù)都有它的優(yōu)點和缺點,都有它的應(yīng)用領(lǐng)域,本文我們將從幾個大家關(guān)心的方面進行討論。 1.擊穿電壓: 1) 對于MOSFET來說, BVDSS(漏源擊穿電壓)在400V~1000V而言,到80年代末,已經(jīng)基本發(fā)展到極至,目前已經(jīng)缺乏技術(shù)飛躍的可能性,Rds(ON)的改善,往往僅靠早期的大封裝(諸如TO-220,D-Pack等)增大硅晶片的面積來達到;我們知道PLANER技術(shù)的缺點就是Rds(ON)的迅速上升,Rds(ON)∝BV2.6,功耗增大,這成為MOSFET向高壓發(fā)展的瓶頸。 2) 而對雙極性晶體管來說,由于采用的是少子的PLANER導(dǎo)電,相對MOSFET來說,做到高壓容易多了。尤其是作為飽和開關(guān)的時候,集電極區(qū)阻抗的電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng),極大的降低了Rce(sat),而MOSFET沒有類似的電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng)。Rce(sat)∝BV2 (圖1) 圖1 ZETEX 3rd 晶體管的Rce(on) vs BV 例: ZETEX的FMMT459,Bvces=450V,Ic=150mA,Rce(sat)typ=1.4ohm,SOT-23封裝;而同樣的參數(shù)的MOSFET,需要DPAK這樣的大的封裝。下圖(圖2)是20V擊穿電壓條件下,晶體管和MOSFET的導(dǎo)通電阻比較: 圖2 20V器件的導(dǎo)通電阻比較 3) 另一個值得關(guān)注的問題是雙極性晶體管擊穿電壓的雙向性;而MOSFET的擊穿電壓是單向的,這主要是由于體二極管造成的;對MOSFET來說,如果存在反壓擊穿問題,就需要并聯(lián)反向二極管或者用兩個MOSFET形成MOSFET對,而這當然會引起導(dǎo)通損耗增大。 2.大電流: 1)對MOSFET來說,高壓MOS由于受到Rds(ON)的影響,目前作大電流受到一定的限制;而在低壓MOSFET中,現(xiàn)在大多廠家均掌握Trench MOSFET,縱向技術(shù)的發(fā)展,極低的Rds(ON),使得Id很容易就達到幾十A,甚至上百A,各種利于散熱的專利封裝空前涌現(xiàn)。低壓大電流MOS已經(jīng)在通訊、消費、汽車、工控、便攜等電子設(shè)備里廣泛使用;同時涌現(xiàn)出一批專攻低壓大電流MOS的公司,比如臺系排行第三的ANPEC(茂達電子),低壓(<100V)MOS竟然連續(xù)幾年占其業(yè)績的50%以上! 2)對于雙極性晶體管來說,根據(jù)Ic=B*Ib來看,其增大電流Ic的方法就是增大發(fā)達倍數(shù)B。第一種方法就是用達林頓管,通過幾個晶體管的放大倍數(shù)相乘,達到小的基極電流控制大的集電極電流的目的。其次就是開發(fā)大的放大倍數(shù)(B)的晶體管,諸如ZETEX的Super-B Transistor,單個晶體管就可以達到Ic=10A.(continuous) 3.驅(qū)動電壓: 1)對于電壓型的MOSFET來說,近年來很多廠家推出了許多Vgs(th)低于1V的MOSFET;但是這僅僅是開門電壓,并不意味著它們可以在Vgs=Vgs(th)下穩(wěn)定良好的工作,因為要真正達到全增強(FULL ENHANCEMENT),達到象規(guī)格書上標注的Rds(ON),大多標準的MOSFET需要10V左右的Vgs,低Vgs(th)的器件也差不多要3-5V左右。由此看,大多MOSFET不能用MCU或DSP直接輸出控制。尤其是當耐壓增大的時候,絕緣層變厚,需要的導(dǎo)通閥值電壓迅速上升。此外,Vth受溫度影響較大,4-6mV/度。 2) 對于電流型的雙極性晶體管來說,僅僅需要滿足Vbe 就可以進行電流的正常增益。小電流的管Vbe甚至可以低至0.4V,對于中大電流的可能需要1V;這樣來看,BIPOLAR TRANSISTOR可以比MOSFET更方便的使用MCU或DSP的輸出直接控制。而且Vbe隨溫度變化不大:大約2mV/度。圖3 圖3 Vbe(sat) 隨溫度變化曲線 4.驅(qū)動功率: 1)MOSFET僅僅需要基區(qū)電流給它的門極電容充放電,因此在低頻和直流電的情況下,MOSFET需要的驅(qū)動功率基本為零;高頻時驅(qū)動功率增加。 2)而晶體管需要足夠的基區(qū)電流Ib,來達到最低的Rce(sat),由此帶來基區(qū)損耗Pd=Ib*Vbe(sat)必須考慮在內(nèi).;如果需要基區(qū)驅(qū)動電阻Rb的話,還要加上這個電阻的損耗Pr=[Vlogic-Vbe(sat)]/Rb.可以通過增大晶體管的增益來減小這些損耗,高增益的單個晶體管就可以達到mA級電流控制A級的電流的效果。 5.導(dǎo)通電阻受溫度影響: 對于功率開關(guān)來說,導(dǎo)通電阻隨溫度變化的關(guān)系非常重要。隨著溫度的升高,各組成部分的純電阻上升。 1)在操作溫度范圍內(nèi),隨著溫度上升,MOSFET的Rds(ON)基本按照2倍左右的正斜率上升;大約是0.64%/度(見圖4)在驅(qū)動條件一定的情況下,MOSFET可以通過降低開啟的門限電壓來補償; 2) 對晶體管來說,隨著溫度的上升,增益也迅速上升,Vce(sat)變化很。▓D5),Rce(sat)上升的速率差不多是Rds(ON)的一半:大約是0.38%/度。在相同的硅面積下,晶體管的溫升更小,電流密度高。 圖4 Rds(ON) 隨溫度變化曲線 圖5 不同溫度下 Vce(sat) VS Ic 6.硅的利用率: 1)對MOSFET來說,在管體導(dǎo)通前,需要橫向開拓電流通路,所以需要更多的半導(dǎo)體硅晶片。 2)而最優(yōu)化的BIPOLAR TRANSISTOR,采取電流垂直流動(圖6),通過最小化base contact,發(fā)射區(qū)面積得到最大利用。 從這個意義上說,相同硅晶片的晶體管比MOS管更能有效的傳輸電流,從而可以減小封裝。 圖6 ZETEX最新幾何技術(shù) 7. 開關(guān)速度: 1) MOSFET是多子飄移運動導(dǎo)電,具有絕對的優(yōu)勢,很容易達到幾百KHz,甚至幾M,乃至幾十MHz; 2) 三極管是少子的擴散運動導(dǎo)電,盡管最近幾年技術(shù)發(fā)展很快,出現(xiàn)許多高頻管,但是能達到100K就相當不容易了。 8.防靜電ESD: 1) MOSFET 對靜電敏感,尤其是門極電荷累積過多而不能及時放掉的話,很容易造成門極擊穿;除了運輸和保管的時采取正確措施外,在設(shè)計的時候,門極和地之間經(jīng)常要加上幾十Kohm的放電電阻。 2)而雙極性晶體管抗靜電能力相對較強,可以比較順利的通過標準的人體靜電模式測試。 9.抗干擾能力: 1)MOSFET的輸入電流幾乎為零,輸入電阻極大,依靠多數(shù)載流子的飄移運動形成電流;抗外界干擾能力較強。 2)晶體管在放大或飽和狀態(tài)下,必然存在基極電流,因此輸入電阻比較。粚(dǎo)電機理是基區(qū)的非平衡的少數(shù)載流子的擴散運動,更容易受溫度、射線等外界因素的影響。 10.反向增益(hFC): 這個特性只有雙極性晶體管具有。由于高摻雜的集電區(qū)也相當于發(fā)射區(qū),在低壓變量的時候,反向增益的峰值有可能達到正向增益峰值的30%――50%;例如,ZETEX的Super-B晶體管反向增益峰值可以達到100――300。反向增益的典型用途之一是可以傳導(dǎo)由外部的感性負載帶來的反向瞬態(tài)沖擊效應(yīng),也就可以省略保護二極管了。 圖7 ZETEX 晶體管FMMT717反向增益曲線圖 將MOSFET和BIPOLAR TRANSISTOR優(yōu)點結(jié)合,就產(chǎn)生了IGBT(ISOLATED GATE BIPOLAR TRANSISTOR),他們共同組成了最基本的半導(dǎo)體器件。 |