4200-SCS 半導體特性分析系統(tǒng)

發(fā)布時間：2014-2-28 13:28 發(fā)布者：eechina

4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進的參數分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)合及時利交互式測試環(huán)境，為半導體科研及產業(yè)用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能。它是一套功能強大的單機解決方案。

4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)采用了模塊化、可配置、可升級的架構。這使得它能夠準確滿足當前的測量需求，也可以模塊擴展以滿足后續(xù)的需求。

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