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國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)分析

發(fā)布時(shí)間:2025-8-13 15:19    發(fā)布者:whpssins
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(器件分析儀)是一種集多種測(cè)量和分析功能于一體的測(cè)試儀器,可準(zhǔn)確執(zhí)行電流-電壓(IV)和電容測(cè)量(CV(電容-電壓)、C -           f(電容-頻率)以及 C –           t(電容-時(shí)間)測(cè)量),并快速、輕松地對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析,完成半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試。半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試是確定半導(dǎo)體器件特征及其制造過(guò)程的一項(xiàng)基礎(chǔ)測(cè)量。在參數(shù)測(cè)試中,通常需要進(jìn)行IV測(cè)量,包括分辨率低至1pA的小電流測(cè)量和高達(dá)1MHz的CV測(cè)量,并對(duì)主要特征/參數(shù)進(jìn)行分析。雖然半導(dǎo)體參數(shù)分析儀的設(shè)計(jì)初衷是進(jìn)行半導(dǎo)體評(píng)測(cè),但因其優(yōu)越的性能、強(qiáng)大的功能以及出色的易操作性,現(xiàn)已在各種材料、器件和電子器件的IV和CV表征中得到廣泛應(yīng)用。
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可為表征任務(wù)提供更高的性能、更強(qiáng)的可用性以及更高的效率。參數(shù)分析儀集多種測(cè)量資源于一身,可輕松進(jìn)行IV和CV測(cè)量,無(wú)需匯集或集成多種儀器,例如電源、電壓表、電流表、LCR表、開(kāi)關(guān)矩陣等。參數(shù)分析儀的主要測(cè)量元器件是電源/測(cè)量單元(SMU)。SMU是一種將電壓/電流源功能和電壓/電流表功能結(jié)合于單一模塊中的測(cè)量模塊。由于該參數(shù)分析儀將電源和測(cè)量電路緊密集成,所以相比使用多種獨(dú)立儀器進(jìn)行相同測(cè)量來(lái)說(shuō),可以提供更高的精度、分辨率以及更小的測(cè)量誤差。
此外,參數(shù)分析儀還具有分析功能,使您無(wú)需借助外部PC便可快速地交互檢查和分析顯示屏上的測(cè)量結(jié)果。由于半導(dǎo)體參數(shù)分析儀具有多種功能,因此適用于從探索分析到自動(dòng)測(cè)試的各種測(cè)量環(huán)境。
全“芯”新品!SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀,1200V/100A,一鍵執(zhí)行測(cè)試,超高性?xún)r(jià)比!模塊化集成設(shè)計(jì),配置多種不同規(guī)格的SMU,可同時(shí)進(jìn)行直流I-V、超快脈沖式I-V、C-V         測(cè)試,幫助你實(shí)現(xiàn)測(cè)試效率與開(kāi)支的平衡!


產(chǎn)品特點(diǎn)
30μV-1200V,1pA-100A  寬量程測(cè)試能力
測(cè)量精度高,全量程下可達(dá)0.03%
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序,直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、 數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)
在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重新布線(xiàn)
供靈活的夾具定制方案,兼容性強(qiáng)
免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集

應(yīng)用場(chǎng)景及測(cè)試參數(shù)
納米材料:電阻率、載流子遷移率、載流子濃度、霍爾電壓
柔性材料:拉伸/扭轉(zhuǎn)/彎折、V-t、I-t、R-t、電阻率、靈敏度
IC芯片:O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O  Pin IV曲線(xiàn)
分立器件:BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、輸出/轉(zhuǎn)移/CV曲線(xiàn)等
光電探測(cè)器:暗電流ID、結(jié)電容Ct、反向擊穿電壓VBR、響應(yīng)度R
鈣鈦礦電池:VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh
LD/LED/OLED:Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲線(xiàn)
傳感器/憶阻器:V-t、I-t、R-t、直流/脈沖/交流IV測(cè)試




特色優(yōu)勢(shì)
模塊化配置:可靈活配置多種測(cè)量單元,預(yù)留升級(jí)空間,方便后期升級(jí)
圖形化界面:內(nèi)置常用器件模板,可直接調(diào)用,并且支持輸出三種模式測(cè)試報(bào)告
自動(dòng)化測(cè)試:內(nèi)嵌低漏電矩陣開(kāi)關(guān),可自動(dòng)切換測(cè)試電路,實(shí)現(xiàn)一鍵測(cè)試功能
夾具可定制:支持二極管、三極管、Si及SiC  MOS管、IGBT等器件
多設(shè)備聯(lián)動(dòng):可與探針臺(tái)、溫控模塊等搭配使用,溫控范圍:室溫~250℃





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