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實驗名稱：正弦相位調(diào)制激光干涉納米位移測量系統(tǒng)方案 測試設備：電壓放大器、電光相位調(diào)制器、光電探測器、He-Ne單頻激光器等。 實驗過程： 圖1：正弦相位調(diào)制激光干涉納米位移測量系統(tǒng)光路結構示意圖 正弦相位調(diào)制激光干涉納米位移測量系統(tǒng)光路結構如圖1所示，圖1中采用He-Ne單頻激光器和橫向電光相位調(diào)制器（EOM）構建了正弦相位調(diào)制激光干涉位移測量系統(tǒng)。為了表述方便將分光棱鏡BS至參考角錐棱鏡M1之間的光程標記為lr，將BS至角錐棱鏡M2之間的光程標記為lo，將角錐棱鏡M2的移動距離標記為Δl。干涉信號經(jīng)過光電探測器PD探測后，經(jīng)由ADC模數(shù)轉換芯片采集輸入進FPGA信號處理模塊。FPGA對采集后的干涉信號進行載波基頻和二倍頻相乘并低通濾波，對低通濾波后的結果進行卡爾曼濾波處理，以修正正交分量的交流幅值和直流偏置，再進行反正切操作得到帶解調(diào)相位。FPGA模塊采用數(shù)字式頻率生成器（DDS）來產(chǎn)生EOM的載波相位調(diào)制信號sinωct，經(jīng)電壓放大器（HVA）放大后調(diào)制EOM。同時FPGA模塊通過串口與上位機相連，以實現(xiàn)相位解調(diào)結果的可視化，以及對位移測量過程中各參數(shù)的監(jiān)測操作。實驗結果： 實驗中介紹了橫向電光相位調(diào)制相關原理，然后介紹了正弦相位調(diào)制激光干涉納米位移測量系統(tǒng)光路，同時搭建實驗系統(tǒng)來進行測試實驗。 電壓放大器推薦：ATA-2088 圖：ATA-2088高壓放大器指標參數(shù) 本資料由Aigtek安泰電子整理發(fā)布，更多案例及產(chǎn)品詳情請持續(xù)關注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線，且具有相當規(guī)模的儀器設備供應商，樣機都支持免費試用。電壓放大器https://www.aigtek.com/products/bk-dyfdq.html |
