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4月17日訊，由電科芯片所屬重慶西南集成電路設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司（以下簡(jiǎn)稱“西南設(shè)計(jì)”）牽頭制定的國家標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體集成電路-射頻發(fā)射器/接收器測(cè)試方法》（標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 44924-2024）已于近日正式實(shí)施。該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施標(biāo)志著我國在射頻測(cè)試領(lǐng)域邁出了重要一步，為半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器的電特性測(cè)試提供了統(tǒng)一、規(guī)范的測(cè)試方法和程序。 據(jù)悉，該國家標(biāo)準(zhǔn)由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口，工業(yè)和信息化部（電子）主管，于2024年12月31日經(jīng)中國國家標(biāo)準(zhǔn)公告發(fā)布，自2025年4月1日起正式實(shí)施。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器的電特性測(cè)試方法的基本原理和測(cè)試程序，適用于具有接收功能、發(fā)射功能、收發(fā)一體功能的一次變頻射頻發(fā)射器/接收器。 西南設(shè)計(jì)作為該標(biāo)準(zhǔn)的主要起草單位之一，充分發(fā)揮了其在射頻測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和創(chuàng)新能力。通過牽頭制定這一國家標(biāo)準(zhǔn)，西南設(shè)計(jì)不僅為行業(yè)提供了科學(xué)、規(guī)范的測(cè)試方法，還推動(dòng)了射頻測(cè)試技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程，為提升我國半導(dǎo)體集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。 該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施對(duì)于促進(jìn)射頻測(cè)試領(lǐng)域的健康發(fā)展具有重要意義。一方面，它將有助于統(tǒng)一測(cè)試方法和程序，提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)提供有力支持；另一方面，它也將推動(dòng)射頻測(cè)試技術(shù)的不斷創(chuàng)新和發(fā)展，滿足市場(chǎng)對(duì)更高性能、更可靠產(chǎn)品的需求。 電科芯片表示，將緊跟集成電路發(fā)展趨勢(shì)與行業(yè)痛點(diǎn)，持續(xù)加強(qiáng)對(duì)國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的研究、編制及實(shí)施推廣工作。未來，電科芯片將繼續(xù)發(fā)揮在射頻測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)引領(lǐng)作用，為集成電路領(lǐng)域的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)化貢獻(xiàn)力量，推動(dòng)中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的繁榮發(fā)展。 |
