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DDR4的單、雙DIE兼容,不做仿真行不行?

發(fā)布時間:2024-8-5 17:29    發(fā)布者:edadoc2003
高速先生成員--姜杰
地址信號一驅五的DDR4拓撲很常見,可是,一驅五拓撲還要求單DIE、雙DIE顆粒兼容的你有見過嗎?
案例開講之前,先簡單介紹下DIE,英語學的好的同學都知道這個詞的意思不太吉利,不過,芯片設計領域的DIE(裸晶)是另外一個意思,它通常指的是芯片內部一個單獨的晶圓區(qū)域,包含了芯片的一個或一組完整功能單元,大致可以理解為去掉了封裝和引腳的芯片。芯片根據(jù)功能和規(guī)模由一個或多個DIE構成。


了解了芯片DIE的概念,相信各位已經(jīng)能意識到我們這個案例兼容雙DIE顆粒的難度了,沒錯,相比于單DIE方案,雙DIE方案相當于接收端數(shù)量直接翻番,信號路徑更加復雜,負載也更重,信號質量的惡化基本可以預見。


讓高速先生略感欣慰的是,客戶也認可雙DIE顆粒的實現(xiàn)難度,因此,可以在保證單DIE顆粒3200Mbps速率的基礎上,再考慮兼容雙DIE顆粒。
遇到如此善解人意的客戶,高速先生絲毫沒有放松,首先對一驅五拓撲的單DIE顆粒方案進行優(yōu)化。熟悉高速先生文章的同學一定還記得,對于一驅多Clamshell拓撲而言,反射會在靠近主控芯片處的近端顆粒處積累,因此,我們會重點關注信號質量較差的近端顆粒。原始眼圖確實不盡如人意,無論是信號質量還是時序,都滿足不了協(xié)議要求。


通過對PCB設計進行一系列的優(yōu)化,近端信號質量大有改善。


不得不說,眼見信號質量由壞變好,高速先生還是蠻有成就感的。只不過,愉悅的心情沒有持續(xù)太久,因為很快就看到了當前設計上的雙DIE顆粒仿真結果。和預期的一樣,雙DIE顆粒的信號質量慘不忍睹,連信號質量最好的遠端顆粒都達不到有效眼高。


不過,通過觀察對比,還是能發(fā)現(xiàn)雙DIE顆粒容性較大的特點,下面是單DIE方案的遠端顆粒眼圖,相比上圖,信號的上升沿明顯陡峭很多。


為了能更清楚的說明這個問題,高速先生分別在近端和遠端對比了單、雙DIE顆粒在相同激勵下的信號上升時間。


通過比較,我們可以得到兩個信息:一是對于不同類型的顆粒,雙DIE顆粒容性更強,對信號上升沿衰減更大;二是對于相同類型的顆粒,由于容性負載效應,遠端顆粒的上升沿衰減比近端顆粒大。
接下來的事情就是針對雙DIE顆粒的拓撲進行設計優(yōu)化了。在仿真過程中,高速先生發(fā)現(xiàn),適用于單DIE顆粒的端接電阻Rtt阻值,卻未必能用在雙DIE顆粒的方案上。比如,對于單DIE顆粒,Rtt 33.2ohm時信號質量優(yōu)于Rtt 24.9ohm的情況;而對于雙DIE顆粒,Rtt 24.9ohm時信號質量卻比Rtt 33.2ohm時要好。


關于端接電阻對DDR地址信號的影響,高速先生之前專門寫過一篇文章,感興趣的同學可以看看《端接電阻沒選對,DDR顆粒白費?》
和以往的劇情不同,對于該案例的雙DIE顆粒,雖然嘗試了各種優(yōu)化方法,最終也未能找到一個兩全其美的兼容方案,客戶無奈接受了雙DIE顆粒需要降頻的現(xiàn)實。
本案例一方面說明了沒有萬能的拓撲,同樣的設計,不同DDR顆粒的結果可能不同;另一方面,從積極的角度來看,不同的主控芯片、不同的顆粒數(shù)量,對結果也都會有影響,所以,本案例無法實現(xiàn)并不代表其它案例的單、雙DIE兼容無法達成。
回到本文題目的問題,相信大家已經(jīng)有了答案。仿真不是萬能的,比如這個案例中的雙DIE方案;仿真也不是沒有用,比如本案例中的單DIE方案,經(jīng)過仿真優(yōu)化才最終達到目標速率。總而言之一句話,道阻且長,仿真護航。

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