電源芯片測(cè)試系統(tǒng)助力4644 dcdc電源芯片項(xiàng)目測(cè)試

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      電源芯片測(cè)試環(huán)境
　　測(cè)試環(huán)境是影響電源芯片測(cè)試精準(zhǔn)度的因素之一，在測(cè)試過(guò)程中要盡量將環(huán)境干擾降到最低。通常情況下，電源芯片測(cè)試需要在以下環(huán)境下進(jìn)行：
　　溫度：25±2℃
　　濕度：60%~70%
　　大氣壓強(qiáng)：86kPa~106kPa

　　4644電源管理芯片測(cè)試設(shè)備
　　測(cè)試電源管理芯片用到的儀器主要有：
　　直流電源
　　電子負(fù)載
　　數(shù)字萬(wàn)用表
　　示波器
　　隨著對(duì)電源芯片的性能和質(zhì)量要求越來(lái)越高，自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已成為電源管理芯片測(cè)試的重要組成部分。在電源芯片自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中，除了上述測(cè)試設(shè)備外，還需要一套自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，與測(cè)試儀器集成在一個(gè)測(cè)試柜中，完成電源芯片項(xiàng)目的自動(dòng)化測(cè)試。

　　納米軟件在ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)基礎(chǔ)上開(kāi)發(fā)了NSAT-2000電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試4644系列電源管理芯片以及其它電源芯片。該系統(tǒng)可兼容4644系列產(chǎn)品的測(cè)試，只需一套系統(tǒng)即可測(cè)試，節(jié)省了額外開(kāi)發(fā)系統(tǒng)的成本。
　　為了提升測(cè)試工作效率，加快電源芯片測(cè)試速度，電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試柜支持兼容測(cè)試工裝，通常由測(cè)試公板和子板組成，只需替換測(cè)試子板來(lái)檢測(cè)不同規(guī)格、型號(hào)的電源芯片。

　　4644微模塊測(cè)試項(xiàng)目
　　完整全面檢測(cè)電源芯片的性能，一般需要測(cè)試以下項(xiàng)目：
　　1. 輸入電壓范圍：在測(cè)試時(shí)改變產(chǎn)品的輸入電壓，測(cè)量產(chǎn)品在設(shè)定輸入范圍內(nèi)是否正常輸出。
　　2. 輸出電壓范圍：在測(cè)試時(shí)通過(guò)改變產(chǎn)品輸出端的分壓電阻，測(cè)量產(chǎn)品是否正常輸出。
　　3. 輸出紋波：測(cè)量直流電壓的交流成分和噪聲，通過(guò)測(cè)量其波形的峰峰值，判斷產(chǎn)品輸出的穩(wěn)定程度。其峰峰值越小，產(chǎn)品越穩(wěn)定。
　　4. 電壓調(diào)整率：檢測(cè)輸入電壓變化對(duì)輸出電壓的影響，電壓調(diào)整率越小說(shuō)明影響越小，電源芯片性能就越穩(wěn)定。
　　5. 負(fù)載調(diào)整率：用來(lái)檢測(cè)負(fù)載變化對(duì)輸出電壓的影響，通常性能穩(wěn)定的電源芯片負(fù)載調(diào)整率較小。
　　6. 反饋端電壓：是測(cè)量每路對(duì)應(yīng)的FB引腳電壓。
　　7. 欠壓關(guān)斷：在輸入電壓過(guò)低的時(shí)候，輸出就會(huì)停止工作即輸出為0，欠壓關(guān)斷就是測(cè)量輸出端停止工作時(shí)的輸入電壓，稱之為關(guān)斷點(diǎn)。
　　8. 欠壓恢復(fù)滯后：輸入電壓從關(guān)斷點(diǎn)升高至輸出恢復(fù)正常，此時(shí)恢復(fù)點(diǎn)和關(guān)斷點(diǎn)存在壓差即為欠壓恢復(fù)滯后。
　　除此之外，還需要測(cè)試輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制、啟動(dòng)過(guò)沖、啟動(dòng)延時(shí)、負(fù)載躍變電壓、效率測(cè)試、效率曲線等等。

　　電源芯片測(cè)試是保證電源管理芯片質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，在測(cè)試過(guò)程中要符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，確保測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性。電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)詳情具體可了解：https://www.namisoft.com/solution/dyglxpcsxt/474.html