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ATECLOUD測試系統(tǒng)功能介紹之儀器兼容性

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發(fā)表于 2024-4-19 15:16:57 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
  隨著科技的迅速發(fā)展,在電源模塊、電源芯片、射頻組件等自動化測試過程中,需要測試系統(tǒng)不僅兼容示波器、萬用表、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等標(biāo)準(zhǔn)儀器,而且還要與一些非標(biāo)設(shè)備對接。為了提高測試效率,減少成本,一款能夠兼容多種儀器的測試系統(tǒng)顯得尤為重要。

  ATECLOUD測試平臺以用戶測試需求為核心,致力于解決測試難題。其突出的特點(diǎn)之一就是強(qiáng)大的儀器兼容性。技術(shù)團(tuán)隊會對收集到的儀器指令進(jìn)行驗證,無誤后再在系統(tǒng)中兼容開發(fā)。目前測試系統(tǒng)已兼容2000+儀器,實(shí)現(xiàn)了儀器自由選型,有效解決了儀器兼容性問題。除了示波器、萬用表等常用的測試儀器之外,ATECLOUD還可以實(shí)現(xiàn)與非標(biāo)設(shè)備的快速對接,輕松完成測試,比如:

  1. 與探針臺快速對接
  在與北京某信息科技有限公司合作的晶圓芯片測試過程中,需要用探針臺和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來檢測晶圓上芯片的S參數(shù)。因此,測試系統(tǒng)不僅要兼容矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,采集網(wǎng)分的數(shù)據(jù),而且還實(shí)現(xiàn)了與探針臺的互通,獲取探針臺的狀態(tài),并且會給探針臺進(jìn)行信息反饋。通過測試系統(tǒng)、網(wǎng)分與探針臺之間的通訊,完成晶圓芯片的自動化測試。

  2. 與萬用表切換工裝通訊
  當(dāng)需要測試產(chǎn)品的多路電壓電流時,由于測試點(diǎn)位多,一個萬用表無法完成多點(diǎn)位自動化測試,而用多個萬用表會增加成本。因此,使用萬用表切換裝置是理想選擇。將繼電器集成到切換裝置機(jī)箱內(nèi),通過通訊線將切換裝置與ATE-BOX(邊緣計算設(shè)備)連接進(jìn)行程控,實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位自動化測試。

  除此之外,ATECLOUD測試平臺的兼容性還體現(xiàn)在能夠支持儀器替換,實(shí)現(xiàn)儀器復(fù)用,減少測試成本。更多ATECLOUD功能,可了解:https://www.namisoft.com/Atecloud.html

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