色偷偷偷久久伊人大杳蕉,色爽交视频免费观看,欧美扒开腿做爽爽爽a片,欧美孕交alscan巨交xxx,日日碰狠狠躁久久躁蜜桃

x
x

應(yīng)對(duì)汽車(chē)檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)測(cè)試需求,泰克提供SiC性能評(píng)估整體測(cè)試解決方案

發(fā)布時(shí)間:2023-10-30 21:44    發(fā)布者:eechina
近年來(lái),在國(guó)家“雙碳”戰(zhàn)略指引下,汽車(chē)行業(yè)油電切換提速,截至2022年新能源汽車(chē)滲透率已經(jīng)超過(guò)25%。汽車(chē)電動(dòng)化浪潮中,半導(dǎo)體增量主要來(lái)自于功率半導(dǎo)體,根據(jù) Strategy Analytics,功率半導(dǎo)體在汽車(chē)半導(dǎo)體中的占比從傳統(tǒng)燃油車(chē)的21%提升至純電動(dòng)車(chē)的55%,躍升為占比最大的半導(dǎo)體器件。

同其他車(chē)用電子零部件一樣,車(chē)規(guī)級(jí)功率半導(dǎo)體也須通過(guò)AEC-Q100認(rèn)證規(guī)范所涵蓋的7大類(lèi)別41項(xiàng)測(cè)試要求。對(duì)于傳統(tǒng)的硅基半導(dǎo)體器件,業(yè)界已經(jīng)建立了一套成熟有效的測(cè)試評(píng)估流程。而對(duì)于近兩年被普遍應(yīng)用于開(kāi)發(fā)800V超充技術(shù)的三代半導(dǎo)體碳化硅(SiC)材料而言,由于其面世時(shí)間較短,缺陷暴露不充分,失效機(jī)理不清晰,對(duì)其進(jìn)行科學(xué)有效的評(píng)估和驗(yàn)證至關(guān)重要。

為了幫助產(chǎn)業(yè)更好的應(yīng)對(duì)SiC所帶來(lái)的測(cè)試驗(yàn)證挑戰(zhàn),各大汽車(chē)檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)正逐步建立起符合AEC-Q100認(rèn)證規(guī)范要求的完整SiC器件/模塊測(cè)試評(píng)估能力;而動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試作為整個(gè)評(píng)估體系的重要一環(huán),往往是機(jī)構(gòu)在搭建相關(guān)驗(yàn)證能力時(shí)所關(guān)注的焦點(diǎn)。泰克作為全球領(lǐng)先的測(cè)試測(cè)量設(shè)備商,針對(duì)SiC器件/模塊可提供以下全流程測(cè)試驗(yàn)證解決方案,相關(guān)方案已被各大汽車(chē)檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)廣泛采用,備受好評(píng)。

SiC器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)(DPT1000A)
DPT1000A功率器件動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)由泰克科技領(lǐng)銜開(kāi)發(fā),專(zhuān)門(mén)用于針對(duì)三代半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測(cè)試,旨在解決客戶(hù)在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見(jiàn)的疑難問(wèn)題,包括如何設(shè)計(jì)高速工作的驅(qū)動(dòng)電路,如何適配多種芯片封裝形式,如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號(hào)測(cè)試,如何優(yōu)化和抑制測(cè)試過(guò)程中的噪聲和干擾。幫助客戶(hù)在研發(fā)設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段,快速評(píng)估器件性能,更快應(yīng)對(duì)市場(chǎng)需求改善產(chǎn)品性能。



系統(tǒng)主要特點(diǎn):
▪  定制化系統(tǒng)設(shè)計(jì) , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動(dòng)電路;
▪  自動(dòng)化測(cè)試軟件,測(cè)試功能豐富 , 可以自動(dòng)配置參數(shù),測(cè)試和生成數(shù)據(jù)報(bào)告;
▪  高帶寬/高分辨率測(cè)試設(shè)備 , 在高速開(kāi)關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件;
▪  覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類(lèi)型,不同封裝芯片測(cè)試;
▪  可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復(fù)、Qg、短路測(cè)試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測(cè)試功能。

SiC器件動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)
HTXB-1000D動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)以 SiC/GaN 為首的新型三代半導(dǎo)體功率器件,根據(jù)其特有的器件結(jié)構(gòu)和失效機(jī)理,在加速老化條件下,有針對(duì)性的施加特定壓力條件 ( 包括靜態(tài)壓力和動(dòng)態(tài)壓力 ),用以測(cè)試功率器件器件的漏流指標(biāo),以及其他典型特性參數(shù) ( 例如閾值開(kāi)啟電壓,導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo) ),以表征器件的老化特性和工作壽命?梢宰屍骷a(chǎn)廠商和器件使用者在較短時(shí)間內(nèi)了解新型功率器件的老化特性,以及長(zhǎng)期使用條件下的性能變化,為器件實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行預(yù)判和分析。
該動(dòng)靜態(tài)壓力綜合老化測(cè)試系統(tǒng)用于批量 SiC/GaN器件老化測(cè)試,通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)可以研究SiC/GaN器件的典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性,幫助客戶(hù)了解器件可靠性相關(guān)信息并表征老化特性。



了解泰克SiC性能評(píng)估系統(tǒng)更多信息,https://www.tek.com.cn/edison-po ... eristic-test-system。

本文地址:http://m.54549.cn/thread-844742-1-1.html     【打印本頁(yè)】

本站部分文章為轉(zhuǎn)載或網(wǎng)友發(fā)布,目的在于傳遞和分享信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé);文章版權(quán)歸原作者及原出處所有,如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問(wèn)題,我們將根據(jù)著作權(quán)人的要求,第一時(shí)間更正或刪除。
您需要登錄后才可以發(fā)表評(píng)論 登錄 | 立即注冊(cè)

關(guān)于我們  -  服務(wù)條款  -  使用指南  -  站點(diǎn)地圖  -  友情鏈接  -  聯(lián)系我們
電子工程網(wǎng) © 版權(quán)所有   京ICP備16069177號(hào) | 京公網(wǎng)安備11010502021702
快速回復(fù) 返回頂部 返回列表