納米軟件芯片測試帶你走進啟動電壓與欠壓鎖定

namisoft

　　每種芯片在設(shè)計階段都會對一些核心指標(biāo)參數(shù)進行提前的計算規(guī)劃，而在芯片生產(chǎn)之后，也會對這些核心參數(shù)進行測試，兩組數(shù)據(jù)進行對比以便了解生產(chǎn)的芯片指標(biāo)參數(shù)是否在當(dāng)初設(shè)計時的規(guī)定范圍之內(nèi)，從而整體把控芯片的質(zhì)量。
　　其中芯片的啟動電壓就是這些核心參數(shù)中最為重要的指標(biāo)之一，而低電壓鎖定(UVLO)這個指標(biāo)就與啟動電壓息息相關(guān)，甚至可以說這兩個指標(biāo)是相輔相成的。啟動電壓從字面意思就可以知道它是芯片從待機狀態(tài)轉(zhuǎn)化為啟動狀態(tài)時的電壓，只有輸出電壓值達到芯片規(guī)定的啟動電壓時，芯片才會開始工作。
　　低電壓鎖定(關(guān)斷)也叫欠壓鎖定(關(guān)斷)，英文縮寫為UVLO，它是芯片的輸入電壓還沒有達到啟動電壓時芯片內(nèi)部的一種保護模式。低電壓鎖定可以保證芯片在輸入電壓不足時不至于被損壞。
　　芯片內(nèi)部的低電壓鎖定電路的作用可以確保芯片的在輸入的電壓未達到啟動電壓時芯片內(nèi)部的其他電路不會被激活，從而保證芯片安全，同時UVLO功能的滯后現(xiàn)象可以降低芯片啟動時的噪聲和電壓振蕩，避免出現(xiàn)噪聲過大而引起系統(tǒng)故障，從而保證芯片的穩(wěn)定性。某些電源芯片的UVLO功能還可以在電源開啟后，使內(nèi)部電路處于待機狀態(tài)，直到電源轉(zhuǎn)換器的輸入電壓達到 UVLO 電壓，以此來減少消耗電流并避免誤操作。
　　在上面我們說到了UVLO的滯后現(xiàn)象，這種現(xiàn)象也叫欠壓關(guān)斷滯后，它在芯片測試中被稱為“Hysteresis”，它是芯片從UVLO模式轉(zhuǎn)換為啟動模式所產(chǎn)生的差值，通俗的來講就是芯片的欠壓鎖定電壓與啟動電壓的差值。比如某芯片的UVLO狀態(tài)電壓為4.9V，Hysteresis電壓為100mV,那么這款芯片的啟動電壓即UVLO+Hysteresis為5V，也就是說該芯片的輸入電壓從4.9V上升到5V，即可退出UVLO狀態(tài)，進入工作狀態(tài)。

　　如何測試芯片的UVLO?
　　在手動測試芯片的UVLO過程中我們也會測試到芯片的啟動電壓和欠壓關(guān)斷滯后電壓，所以這三個指標(biāo)可以一起進行測量;測試這些指標(biāo)我們需要一臺電源和數(shù)字萬用表即可，電源給芯片的輸入一個電壓，萬用表則測試芯片的輸出電壓。
　　這個過程需要電源在輸入端從0逐漸提升輸入電壓直至萬用表上讀到芯片的額定輸出電壓為止，此時電源上設(shè)置的電壓即為啟動電壓;然后將啟動電壓逐漸降低，直至萬用表上的輸出電壓值消失，此時電源上的電壓即為UVLO電壓，這兩個電壓差即為欠壓關(guān)斷滯后電壓。
　　我們可以看到手動測試這些指標(biāo)時，需要按照順序不停的調(diào)整電源輸出電壓，同時需要注意萬用表的讀數(shù)，所以整個測試過程十分緩慢，面對大批量芯片測試時不僅效率極低，而且對于測試人員的精力和技術(shù)要求很高，所以在芯片的研發(fā)和產(chǎn)線測試中手動測試很不適用。
　　面對這一系列問題和現(xiàn)狀自動化的測試系統(tǒng)應(yīng)運而生，芯片自動化測試系統(tǒng)在針對需要循環(huán)和高精度要求的測試場景中優(yōu)勢尤為明顯。通常這些測試場景中手動測試只能手動一步步調(diào)整參數(shù)實現(xiàn)步進任務(wù)，高精度的觸發(fā)讀數(shù)也只能依靠目測，而在欠壓鎖定的測試項目中芯片測試系統(tǒng)只需要人工提前將儀器接線完成，然后通過循環(huán)指令和數(shù)據(jù)讀取指令即可完成復(fù)雜的測試過程，測試效率是人工測試的5-10倍，而且數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度是人工無法比擬的。更多芯片測試詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html