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PCIe失效分析利器,一學就會成為故障定位專家

發(fā)布時間:2023-4-24 18:37    發(fā)布者:eechina
作者:泰克科技
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在服務器、PC等電子設備主板的生產(chǎn)中,往往會出現(xiàn)產(chǎn)線的故障,需要失效分析工程師(FA)以及維修工程師(RMA)去快速定位生產(chǎn)過程當中的故障件,特別是一些高速信號的故障。在整個過程中,往往需要面臨很多的壓力和責任,比如:
        客戶投訴需要及時反饋
        不良風險點的識別和內(nèi)部分析
        不斷完善設計檢查表,推動 RD 優(yōu)化設計
        指導生產(chǎn)制程改善
        團隊的能力需要持續(xù)提升

高速信號的特殊性

但是要應對這些壓力,往往也對工程師提出了很高的要求。目前來看FA/RMA工程師由于工作性質(zhì)問題,要去應對上面的挑戰(zhàn)往往也很棘手,特別是高速信號相關的故障,而且由于高速信號的特殊性,這類信號也容易出問題,其中PCIe信號是其中的典型。

主要原因:
        高速信號帶寬高、速率快、信號冗余度也因此變。
        PCIe 信號是高速信號互聯(lián)的關鍵;
        PCIe 互聯(lián)的接口總類多;
        缺少測試手段,往往只有低端示波器以及萬用表,無法用于高速信號問題排查;
        缺乏系統(tǒng)的信號完整性知識,往往依賴于產(chǎn)品研發(fā);

因此FA/RMA工程師需要在嚴苛的客戶投訴、產(chǎn)線運轉(zhuǎn)時間中,能夠有足夠的手段以及盡可能低的學習成本,快速驗證諸如PCIe高速總線的故障,從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋,甚至能夠推動RD優(yōu)化設計,確保團隊能夠得到持續(xù)的正向發(fā)展和評價。


圖1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀

新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀

針對上面提到的FA/RMA工程師所遇到的挑戰(zhàn),泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能綜合測試儀。


圖 2. 豐富的硬件接口形式,應對各種產(chǎn)品形態(tài)

這臺儀器集成了豐富、便捷的功能,直達PCIe 信號鏈路、物理層細節(jié)信息,直觀的圖示有利于工程師學習和掌握:
        支持PCIe Gen3/4信號的一鍵式掃描功能,同時掃描所有鏈路的發(fā)射和接收性能。
        支持多種多樣的硬件接口,如CEM、M.2、U.2、U.3等等,適配各種信號連接。
        速度飛快,掃描所有16條PCIe Gen4總線鏈路只需要1-2分鐘。
        一學就會,無需學習成本,通過網(wǎng)頁訪問,只需要一兩個按鍵操作就能完成測試。
        提供專業(yè)報告,方便與RD一起進行問題分析與定位。


圖3. 專業(yè)級的PCIe物理層Tx/Rx分析

通過TMT4 PCIe性能綜合測試儀,整個FA/RMA工程師團隊可以在短短1-2分鐘內(nèi)提交全面的PCIe鏈路的發(fā)射機和接收機的測試結果,從而能夠給出專家級的分析報告;因此也能夠幫助工程師更快的對客戶投訴做出反饋,以及幫助工程師快速確定問題所在,確保產(chǎn)線正常運轉(zhuǎn),最大程度提升工程師價值以及降低產(chǎn)線成本。

了解更多TMT4 PCIe性能綜合測試儀,https://www.tek.com.cn/products/pciemargintester。目前這款新品所在的PCIe測試實驗室已開放預約,歡迎大家來實測體驗。

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