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The On-Chip Calibration Benefits of New Simultaneous SAR Analog-to-Digital Converters 作者：Lluis Beltran Gil，ADI產(chǎn)品應(yīng)用工程師 摘要 本文評(píng)估在電阻模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)前面的外部電阻的影響。這些系列的同步采樣ADC包括一個(gè)高輸入阻抗電阻可編程增益放大器(PGA)，用于驅(qū)動(dòng)ADC和縮放輸入信號(hào)，允許直接連接傳感器。但是，有幾個(gè)原因?qū)е略谠O(shè)計(jì)期間，我們最終會(huì)在模擬輸入前面增加外部電阻。以下部分從理論上解釋預(yù)期的增益誤差，該誤差與電阻大小呈函數(shù)關(guān)系，且介紹最小化這些誤差的幾種方式。本文還研究電阻公差和不同的校準(zhǔn)選項(xiàng)對(duì)ADC輸入阻抗的影響。除理論研究之外，還使用試驗(yàn)臺(tái)測(cè)量和比較幾種設(shè)備，以證明片內(nèi)增益校準(zhǔn)功能能實(shí)現(xiàn)出色精度。增益校準(zhǔn)功能使廣泛前端電阻值的系統(tǒng)誤差低于0.05%，無(wú)需執(zhí)行任何校準(zhǔn)例程，只需對(duì)每個(gè)通道的單個(gè)寄存器執(zhí)行寫(xiě)操作即可。 簡(jiǎn)介 傳統(tǒng)上，同步采樣逐次逼近寄存器(SAR) ADC被視為是對(duì)主要由能源客戶提出的提供保護(hù)繼電器應(yīng)用的需求的響應(yīng)。在輸配電網(wǎng)絡(luò)中，保護(hù)繼電器監(jiān)測(cè)電網(wǎng)，以盡快對(duì)任何故障情況（過(guò)壓或過(guò)流）作出反應(yīng)，避免造成嚴(yán)重?fù)p壞。 為了監(jiān)測(cè)傳輸?shù)碾娫�，需要同步測(cè)量電流和電壓。電流是通過(guò)變壓器(CT)來(lái)測(cè)量的，在通過(guò)變壓器后，電流減小，提供隔離，并通過(guò)負(fù)載電阻轉(zhuǎn)換為電壓。電壓是通過(guò)電阻網(wǎng)絡(luò)來(lái)測(cè)量的，這是一個(gè)分壓器，它將電壓從kV范圍降至V范圍。ADI公司提供同步采樣ADC來(lái)監(jiān)測(cè)電壓和電流，以簡(jiǎn)化雙器件、四器件或八器件的功率計(jì)算。圖1所示的信號(hào)鏈原理圖通常用于測(cè)量單相，多相電力系統(tǒng)的功率需要使用通道數(shù)量更高的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)，即8個(gè)通道對(duì)應(yīng)3個(gè)相位和1個(gè)中性相位。 下載全文： 
ADI 技術(shù)文章 (約6000字17圖２表) －新推出的同步SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的片內(nèi)校準(zhǔn)優(yōu)勢(shì) (24112).pdf
(1.21 MB)
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