EEPROM三重測(cè)試

發(fā)布時(shí)間：2020-7-1 10:58 發(fā)布者：eechina

視頻簡(jiǎn)介：本視頻介紹了Microchip為提供高品質(zhì)EEPROM而執(zhí)行的EEPROM三重測(cè)試，通過(guò)減少早期失效和老化失效來(lái)降低EEPROM的不良率。

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