普源頻譜分析儀DSA815 EMI近場(chǎng)輻射測(cè)試的操作指南

agitek2008

A. 頻率設(shè)置——設(shè)置鍵FREQ，SPAN

a) 整頻段的掃描——設(shè)置起始頻率及終止頻率來(lái)確定頻率范圍。（如300KHz起始，300MHz終止，則掃描范圍為300KHz至300MHz的頻率范圍。直接鍵盤輸入數(shù)字后加上對(duì)應(yīng)的單位即可完成輸入）

b) 確定頻率范圍的掃描——設(shè)置中心頻率點(diǎn)，而后設(shè)置掃寬范圍，即可完成某一中心點(diǎn)某范圍的掃描。（如10MHz中心頻率點(diǎn)，5MHz掃寬。則為10MHz為中心，左右各2.5MHz范圍的頻率掃描）

B. 設(shè)置幅度AMPT——由于EMI的輻射功率值一般較低，所以需要降低頻譜儀顯示平均噪聲電平DNAL來(lái)將掃描結(jié)果顯示出來(lái)。

a) 初始顯示底噪為-50~-60dBm。如需降低，則有如下手段。

i. AMPT下輸入衰減——衰減值越小則底噪越低。最低為0dBm。（建議EMI掃描設(shè)置為0 dBm）

ii. AMPT下第二頁(yè)菜單中前置放大——打開(kāi)則可將底噪降低20 dBm。（根據(jù)需要進(jìn)行判斷是否打開(kāi)）

iii. BW鍵下的分辨率帶寬——分辨率帶寬越小則底噪越小。（關(guān)系是帶寬每小10倍，則底噪降低10 dBm。帶寬最高為1M，最低為100Hz。但需注意，帶寬越小掃描的速度越慢。）

C. 峰值標(biāo)定PEAK&MARK

a) 直接選擇面板上的PEAK鍵則可將當(dāng)前最高點(diǎn)峰值標(biāo)定。

b) 打開(kāi)AMPT中選型，將連續(xù)峰值打開(kāi)。則頻譜儀會(huì)連續(xù)在當(dāng)前頻段內(nèi)搜索最高值。

c) 打開(kāi)光標(biāo)MARK，則屏幕會(huì)出現(xiàn)帶標(biāo)號(hào)的光標(biāo)點(diǎn)。轉(zhuǎn)動(dòng)頻譜儀的旋鈕，則可以移動(dòng)光標(biāo)點(diǎn)，可對(duì)任意屏幕點(diǎn)的峰值進(jìn)行測(cè)量。

D. 跡線的顯示TRACE

a) 頻譜儀最高可顯示3條跡線。每條跡線的顯示模式有如下

i. 最大保持——記錄當(dāng)前頻段內(nèi)所有頻率點(diǎn)的最高值，并保留

ii. 最小保持——記錄當(dāng)前頻段內(nèi)所有頻率點(diǎn)的最小值，并保留

iii. 清除寫(xiě)入——實(shí)時(shí)刷新跡線

iv. 視頻平均——與此測(cè)量無(wú)關(guān)，需要可查看數(shù)據(jù)手冊(cè)

v. 功率平均——與此測(cè)量無(wú)關(guān)，需要可查看數(shù)據(jù)手冊(cè)

vi. 查看——停止更新跡線數(shù)據(jù)，以便于觀測(cè)及讀數(shù)

vii. 關(guān)閉——關(guān)閉此跡線

b) 實(shí)際使用

i. 根據(jù)跡線類型，我們可以先掃描未整改前的板子輻射情況，并記錄為跡線1，用最大保持掃描后，得到最高的跡線情況，用查看固定跡線使其不再更新。

ii. 打開(kāi)跡線2，并用最大保持掃描我們整改后的板子，得到整改后的跡線情況，得到跡線2.對(duì)比1與2的跡線，可以了解整改前后各個(gè)頻點(diǎn)的輻射最大值是否有改善。

iii. 打開(kāi)跡線3，并用清除寫(xiě)入進(jìn)行檢測(cè)，可得到板子目前每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的輻射情況，并跡線1、2進(jìn)行對(duì)比，可觀測(cè)每個(gè)測(cè)量點(diǎn)的不同輻射情況。

iv. 將三條跡線進(jìn)行對(duì)比，可得到我們整改的效果是否符合要求，并將板子上每個(gè)點(diǎn)的輻射情況與整體的輻射情況作對(duì)比，可知每個(gè)較強(qiáng)輻射的信號(hào)點(diǎn)產(chǎn)生的位置。

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