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NI（美國國家儀器，National Instruments, 簡稱NI）推出PXIe-4163高密度源測量單元（SMU），該測量單元提供了比以往NI PXI SMU高達6倍的直流通道密度，適用于測試RF、MEMS以及混合信號和其他模擬半導體元件。 NI全球銷售和市場執(zhí)行副總裁Eric Starkloff表示：“5G、物聯(lián)網(wǎng)和自動駕駛汽車等革命性的技術發(fā)展給半導體企業(yè)帶來持續(xù)的壓力。無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更高效的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能，以幫助芯片制造商應對他們面臨的最大挑戰(zhàn)，這一點通過NI最新的PXI SMU可以完全體現(xiàn)出來�！� 由于其高吞吐量、高性價比和占地面積小，NI的半導體測試系統(tǒng)（STS）正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163 SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中提供實驗室級別的測量質量。利用這一組合，工程師在實驗室和生產(chǎn)車間中可以使用相同的儀器進行驗證，從而減少了測量數(shù)據(jù)關聯(lián)的挑戰(zhàn)，進而縮短上市時間。 工程師可以在STS配置或單獨的PXI系統(tǒng)中使用全新的PXIe-4163 SMU。 主要產(chǎn)品功能包括： • 在單個PXI Express插槽中提供多達24路通道 • 每通道電壓范圍+/- 24 V • 每通道高達100 mA源極/漏極電流 • 100 pA電流靈敏度 • 高達100 kS/s采樣率和更新速率 • 采用SourceAdapt技術，可最小化過沖和振動 • 交互式配置和調(diào)試軟件 • 在單個PXI機箱中提供高達408個高精度SMU通道（4U機架空間） • 受到STS全面支持，包括系統(tǒng)級布線、校準和引腳映射支持 STS于2014年推出，為半導體生產(chǎn)提供了顛覆性的測試方法。它基于NI PXI平臺，可以幫助工程師構建更智能的測試系統(tǒng)。PXI平臺包括1 GHz帶寬矢量信號收發(fā)儀 、fA級SMU 、TestStand業(yè)界領先的商用現(xiàn)成測試管理軟件以及頻率從DC涵蓋到mmWave的600多種PXI產(chǎn)品。 如需了解更多關于STS的功能，請訪問www.ni.com/sts/。 |
