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測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建完整指南：硬件和測(cè)量抽象層

發(fā)布時(shí)間：2017-3-24 15:56 發(fā)布者：eechina

關(guān)鍵詞：測(cè)試系統(tǒng) , 智能測(cè)試 , PXI

測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建完整指南系列之一，硬件和測(cè)量抽象層是有效的設(shè)計(jì)模式，可使測(cè)試軟件適應(yīng)不同的硬件。與測(cè)試序列采用針對(duì)特定設(shè)備的代碼模塊不同，抽象層可將測(cè)量類型和針對(duì)特定儀器的驅(qū)動(dòng)程序與測(cè)試序列分離。了解如何通過(guò)讓軟硬件工程師并行工作來(lái)大幅縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間。

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7Test_System_CompleteGuide_HAL_MAL.pdf (3.1 MB)

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