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16位微處理器L80C186-10測試技術(shù)研究

發(fā)布時(shí)間:2010-7-29 16:42    發(fā)布者:lavida
L80C186-10是一款具有極高集成度的16位微處理器,它把15"20個(gè)最常用的微處理器系統(tǒng)部件組合在一塊芯片上,性能是標(biāo)準(zhǔn)80C186-10的2倍,由于集成了許多外部設(shè)備接口,因而使得系統(tǒng)結(jié)構(gòu)得到了大大的簡化。L80C186-10與iAPX86、88微處理器是目標(biāo)代碼相兼容的,并且還在現(xiàn)存的iAPX86、88指令集中加入了10種新的指令類型。本文對L80C186-10的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及各部件功能塊測試做了詳細(xì)介紹。

電路結(jié)構(gòu)與功能框圖

L80C186-10具有復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu),它將DMA部件、定時(shí)器部件、中斷控制部件、總線控制部件、片選信號和準(zhǔn)備就緒信號生成部件以及CPU集成在一塊單芯片上。

L80C186-10 CPU具有4個(gè)16位通用寄存器(AX、BX、CX、DX),4個(gè)16位指針寄存器(SI、DI、BP、SP),4個(gè)16位段寄存器(CS、DS、SS、ES),1個(gè)16位指令指針和1個(gè)16位狀態(tài)寄存器,以及1個(gè)6字節(jié)的預(yù)取指令隊(duì)列和4字節(jié)的預(yù)存指令隊(duì)列。取指令和執(zhí)行指令是由分離部件、總線接口部件和執(zhí)行部件各自完成的。

測試

隨著設(shè)計(jì)和工藝的發(fā)展,在單塊芯片上所能實(shí)現(xiàn)的集成度越來越高,一些器件在性能和功能方面都達(dá)到了更新、更高的水平。在這樣的情況下,對集成電路測試技術(shù)的要求也越來越高,在集成電路研制過程中,測試環(huán)節(jié)占有舉足輕重的地位,也越來越受到研制者的重視。通過測試驗(yàn)證版圖能夠進(jìn)行故障定位,對工藝生產(chǎn)提供可行性建議,從而促進(jìn)電路的研制開發(fā)。電路的測試包括功能測試、直流參數(shù)測試和交流參數(shù)測試幾部分,其中,功能測試尤為關(guān)鍵。

功能測試

功能測試主要針對器件進(jìn)行,因此,在編制測試碼點(diǎn)前必須熟悉電路的工作原理,了解內(nèi)部各個(gè)相關(guān)寄存器的狀態(tài)及讀寫時(shí)序等。然后,根據(jù)器件要求的輸入條件,采用多種方式調(diào)制出正確的輸入波形,以滿足器件的工作條件。同時(shí)對輸出端進(jìn)行采樣,并做出比較,以驗(yàn)證電路的相應(yīng)功能。功能測試應(yīng)對電路的所有功能進(jìn)行驗(yàn)證,以便查找電路缺陷,驗(yàn)證版圖的正確性。

L80C186 CPU指令

對于L80C186 CPU來說,每個(gè)指令的執(zhí)行由取指令、譯碼和執(zhí)行構(gòu)成。而執(zhí)行一條指令的一系列動(dòng)作,都是在時(shí)鐘脈沖CLK的統(tǒng)一控制下一步步進(jìn)行的。執(zhí)行一條指令所需要的時(shí)間稱為指令周期,再把指令周期劃分為一個(gè)個(gè)總線周期。CPU從存儲(chǔ)器或輸入輸出端口存取一個(gè)字節(jié)就是一個(gè)總線周期,所以多字節(jié)指令取指就需要若干個(gè)總線周期;在指令的執(zhí)行階段,不同的指令也會(huì)需要不同的總線周期。

每個(gè)總線周期通常包含4個(gè)狀態(tài),每個(gè)T狀態(tài)是L80C186-10中處理動(dòng)作的最小單位,即時(shí)鐘周期。雖然各條指令的周期有很大的差別,但它們?nèi)匀皇怯梢韵乱恍┗镜目偩周期組成的:存儲(chǔ)器讀/寫、輸入/輸出端口讀/寫、中斷響應(yīng)。

DMA部件

16位微處理器L80C186-10提供了2個(gè)獨(dú)立的高速DMA通道,每個(gè)通道在控制塊中有6個(gè)寄存器,它們定義了通道的具體操作。這些控制寄存器由1個(gè)20位的源指針(2個(gè)字),1個(gè)20位的目標(biāo)指針(2個(gè)字),1個(gè)16位的傳輸計(jì)數(shù)器和1個(gè)16位的控制字組成。DMA控制塊的格式如表1所示。傳輸計(jì)數(shù)寄存器(TC)指定了要進(jìn)行的DMA傳送次數(shù),控制字定義了通道的操作。在DMA活動(dòng)期間,全部寄存器都可以被修正或改變,對這些寄存器所作的任何改變都會(huì)立即在DMA操作中反映出來。

只要控制寄存器的ST/STOP位(啟動(dòng)/停止(I/O)通道位)被設(shè)置,就會(huì)產(chǎn)生DMA周期。若被編程為同步傳送,則必須先產(chǎn)生一個(gè)DRQ,因此,源/目標(biāo)指針和傳輸計(jì)數(shù)寄存器(若使用的話)必須在這一位被設(shè)置前完成編程。在RESET時(shí),DMA將執(zhí)行以下兩個(gè)操作:每個(gè)通道的啟動(dòng)/停止位被復(fù)位或STOP,任何在執(zhí)行中的傳送被放棄。

中斷控制部件

L80C186-10能夠從內(nèi)部和外部的許多源接受中斷,內(nèi)部中斷控制器把這些請求在一個(gè)優(yōu)先級基礎(chǔ)上進(jìn)行合并,使其能由CPU一個(gè)一個(gè)地進(jìn)行服務(wù)。內(nèi)部中斷源(定時(shí)器和DMA通道)能夠被它們自己的控制寄存器或由在中斷控制器中的屏蔽位來禁止。L80C186-10的中斷控制器有自己的控制寄存器,該寄存器用于設(shè)置控制器的操作方式。

主設(shè)備方式下中斷控制器的基本操作方式與8259A類似。中斷控制器對在所有三種方式下的內(nèi)部中斷響應(yīng)是相同的,不同的地方僅在于對4個(gè)外部中斷引腳的功能解釋上。中斷控制器被設(shè)置到三種方式之一是通過對在INT0和INT1控制寄存器中的正確位進(jìn)行編程來實(shí)現(xiàn)的。中斷控制器的三種操作方式為全嵌套方式、級聯(lián)方式和特殊全嵌套方式。

總線控制部件與L80C186-10指令集

L80C186-10的總線接口與8086總線結(jié)構(gòu)非常相似,它具有多路轉(zhuǎn)換地址/數(shù)據(jù)總線,以及各種各樣的控制和狀態(tài)總線,每個(gè)總線周期需要最少4個(gè)CPU時(shí)鐘周期和任意多個(gè)等待狀態(tài),其需要等待狀態(tài)的個(gè)數(shù)由外部存儲(chǔ)器和外部設(shè)備的訪問速度所決定。

L80C186-10的指令集被分成7種類型:數(shù)據(jù)傳送、算術(shù)、移位/環(huán)移/邏輯、串處理、控制轉(zhuǎn)移、高級指令和處理器控制。一條80C186指令能夠引用在任何地方的零個(gè)到多個(gè)操作數(shù)。一個(gè)操作數(shù)可以常駐在一個(gè)寄存器里,在指令本身中或在存儲(chǔ)器中。

時(shí)鐘發(fā)生器

L80C186-10包含一個(gè)時(shí)鐘發(fā)生器,用來為所有的L80C186-10集成部件,以及在該系統(tǒng)中所有與CPU同步的設(shè)備產(chǎn)生主時(shí)鐘信號。這個(gè)時(shí)鐘發(fā)生器包含一個(gè)晶體振蕩器,二分頻器,復(fù)位電路,以及準(zhǔn)備就緒信號生成邏輯。

晶體振蕩器的輸出(或外部頻率輸入)驅(qū)動(dòng)一個(gè)二分頻電路,此電路為L80C186-10生成占空比為50%的周期時(shí)鐘。L80C186-10的所有時(shí)序都是參考這一信號的,該信號可以從L80C186-10的CLKOUT引腳上得到,在EPI信號從高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)改變狀態(tài)。時(shí)鐘發(fā)生器還為系統(tǒng)提供一個(gè)同步的復(fù)位信號(RES),這一信號同步于時(shí)鐘輸入信號。復(fù)位輸入信號還復(fù)位二分頻器,當(dāng)RES輸入信號第一次有效時(shí),將生成一個(gè)單個(gè)時(shí)鐘周期的內(nèi)部復(fù)位脈沖。

L80C186-10的時(shí)鐘端采用雙倍時(shí)鐘方式,可使測試碼點(diǎn)減少一半,大大減少了碼點(diǎn)編制的工作量,縮短了測試時(shí)間,提高了工作效率。

直流參數(shù)測試

對集成電路直流參數(shù)的測試,在不同測試系統(tǒng)上的測試原理和方法基本上是一致的,都是按照詳細(xì)規(guī)范和規(guī)定對所測項(xiàng)目施加相應(yīng)的測試條件,從而得出所測參數(shù)值。

交流參數(shù)測試

L80C186-10的交流參數(shù)測試是嚴(yán)格按照詳細(xì)規(guī)范,采用功能驗(yàn)證方法進(jìn)行測試的。

結(jié)語

16位微處理器L80C186-10是集成電路技術(shù)高度發(fā)展的產(chǎn)物,由于集成電路的使用,可以將許多所需的外圍器件及其接口制作在一個(gè)硅片上,這就增加了集成電路測試的難度,也更體現(xiàn)了測試的重要性。L80C186-10的整套測試程序和測試碼點(diǎn)都是在DIC-8032集成電路測試系統(tǒng)上開發(fā)的,通過驗(yàn)證版圖和故障定位,使L80C186-10順利研制成功,并能夠滿足用戶要求。
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