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一種低溫漂輸出可調(diào)帶隙基準電壓源的設計

發(fā)布時間:2010-7-22 10:27    發(fā)布者:vinda
關鍵詞: 電壓基準
在A/D和D/A轉(zhuǎn)換器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)以及各種測量設備中,都需要高精度、高穩(wěn)定性的基準電壓源,并且基準電壓源的精度和穩(wěn)定性決定了整個系統(tǒng)的工作性能。電壓基準源主要有基于正向VBE的電壓基準、基于齊納二極管反向擊穿特性的電壓基準、帶隙電壓基準等多種實現(xiàn)方式,其中帶隙基準電壓源具有低溫度系數(shù)、高電源抑制比、低基準電壓等優(yōu)點,因而得到了廣泛的應用。

本文在基于傳統(tǒng)帶隙電壓基準源原理的基礎上,采用電流反饋、一級溫度補償?shù)燃夹g,同時在電路中加入啟動電路,設計了一個高精度、輸出可調(diào)的帶隙基準電壓源,并在SMIC 0.25μm CMOS工藝條件下對電路進行了模擬和仿真。  

1 帶隙基準電壓源工作原理與傳統(tǒng)結(jié)構  

帶隙基準電壓源的原理就是利用PN結(jié)電壓的負溫度系數(shù)和不同電流密度下兩個PN結(jié)電壓差的正溫度系數(shù)電壓VT相互補償,使輸出電壓達到很低的溫度漂移。  

1.1 帶隙基準電壓源工作原理  

圖1為溫度對二極管伏安特性的影響。  

可以看出,溫度升高,保持二極管正向電流不變時所需正向偏壓減小,溫度系數(shù)為:-1.9 mV/℃~2.5 mV/℃。  
PN結(jié)電流與外加電壓的關系為:


圖2(a)為帶隙電壓基準源的原理示意圖。



結(jié)壓降VBE在室溫下溫度系數(shù)約-2.0 mV/K,而熱電壓VT(VT=k0T/q),在室溫下的溫度系數(shù)為0.085 mV/K,將VT乘以常數(shù)k并與KBE相加,可得到輸出電壓Vref為:



將式(1)對溫度T進行一次微分,并在室溫下等于0(輸出電壓在室溫下的理論溫度系數(shù)等于0),解得常數(shù)k,即



1.2 傳統(tǒng)帶隙基準電壓源結(jié)構  

圖2(b)是傳統(tǒng)的CMOS帶隙電壓基準源電路,圖中運算放大器的作用是使電路處于深度負反饋狀態(tài),從而讓運算放大器兩輸入端電壓相等。  
在電路穩(wěn)定輸出時:
  


由式(3)、式(4)得:



式中:k為常數(shù),  


  
由于實際的運算放大器存在一定的失調(diào)電壓VOS,所以實際輸出電壓為:


   
由式(7)可得,運算放大器的失調(diào)電壓會導致比較大的基準輸出電壓誤差。運算放大器的失調(diào)電壓VOS包括自身的失調(diào)、電源電壓變化引起的失調(diào)、工藝不匹配引起的失調(diào)及溫度引起的失調(diào),其中自身的失調(diào)占主要作用,所以在大多數(shù)帶隙基準源電路中,一般采用兩級高增益運算放大器作為反饋運放,以降低失調(diào)電壓。傳統(tǒng)帶隙基準電壓源結(jié)構雖然能輸出比較精確的電壓,但是所得到的精度有限,而且其基準電壓范圍有限(1.25 V左右),要想克服上述問題和限制,必須對傳統(tǒng)基準源的結(jié)構有所改進。  

2 CMOS帶隙基準電壓源電路結(jié)構  

本設計是在SMIC 0.25μm CMOS工藝基礎上完成的,設計中采用了一級溫度補償、電流反饋等技術。其電路結(jié)構如圖3所示(不考慮虛線框R5部分)。  

BGR核心電路中,晶體管Q1、Q2為使用標準CMOS工藝制造的二極管連接形式的PNP縱向三極管(BJT)。Q2和Q1的發(fā)射極面積的比為N,流過Q1和Q2的電流相等,這樣△VBE就等于VTln(N)。流過電阻R1的電流I4是與熱力學溫度成正比的。流過M2、M3、M4的電流相等(I1=I2=I3),所以
  


參考電壓Vref為:



通過調(diào)節(jié)R3與R1的比值和Q2與Q1發(fā)射極面積的比值,可以使輸出電壓參考在室溫下的溫度系數(shù)為0。



本設計還具有輸出可調(diào)的特點,設計中采用文獻[2]提到的在運算放大器兩輸入端與地之間加電阻的方法。由式(9)可看出,在調(diào)節(jié)了k值

后,可以方便地調(diào)節(jié)R4的值來調(diào)節(jié)參考電壓的輸出大小,正是由于運算放大器兩輸入端的接地電阻R2、R3的增加,使得總的鏡像電流通過電阻R4后可以方便地改變輸出大小,相比文獻[3]中的二次分壓結(jié)構更簡單,更節(jié)省面積。  

該帶隙基準源的電流源不僅用于提供基準輸出所需的電流,也用于產(chǎn)生差分放大器所需的電流源偏置電壓,大大簡化了電路的版圖。設計中采用了高增益NMOS差分對運算放大器,根據(jù)文獻[4],實驗仿真結(jié)果顯示,對于電源電壓的直流變化,低電源抑制比的運算放大器也能實現(xiàn)電壓跟隨,Vref輸出穩(wěn)定。而在電源電壓有交流干擾、特別是信號頻率較高(>30 MHz)時,Vref輸出端也有同頻的交流信號,幅度近似于電源干擾信號的幅度,這時Vref已不能認為是恒定的輸出。原因是運算放大器輸出信號與電源信號之間存在明顯的相位差。解決的方法有兩種:第1種是提高運算放大器的單位增益帶寬;第2種是降低運算放大器本身的PSRR(電源抑制比)。第1種方法會增大電路消耗的功率,對于第2種方法,我們采用低PSRR(電源抑制比)的運算放大器就可以實現(xiàn),相比于文獻[5]中使用的PMOS差分對運算放大器,我們采用相對較低PSRR的NMOS差分對運算放大器。  

本設計中還增加了帶隙基準源的啟動電路,因為帶隙基準源存在兩個電路平衡點,即零點和正常工作點,當電路處在零點時,整個電路中沒有電流流過,電路不能正常工作。啟動電路應滿足兩個方面的要求:一是確保總有電流流過參考源中的晶體管,使得零狀態(tài)處的環(huán)路增益大于1,避免陷入零狀態(tài);二是參考源啟動后,啟動電路不應干擾參考源的正常工作。當基準源工作在零點時,節(jié)點N1、N2的電壓等于0,基準源沒有電流產(chǎn)生。啟動電路的目的就是為了避免基準源工作在不必要的零點上。本文設計了圖3中所示的啟動電路,電路由M11、M12和M13構成。當電路工作在零點時,N2點電壓為0,M13管導通,迅速提高節(jié)點N1、N2的電壓,產(chǎn)生基準電流;這時節(jié)點N1的電壓通過M11和M12組成的反相器,使M13管完全截止,節(jié)點N1、N2的電壓回落在穩(wěn)定的工作點上,基準源開始正常工作而啟動電路中沒有電流流過。
  
3 電路模擬和仿真結(jié)果  

基于0.25μm BSIM3V3.2工藝模型,用cadence的spectre仿真工具對高精度輸出可調(diào)帶隙基準電壓源電路進行了溫度掃描和電源抑制比的模擬仿真。溫度范圍為-20℃~70 ℃,電源電壓范圍為2 V~3 V。在SMIC 0.25μm BSIM3V3.2工藝tt模型下的仿真所得結(jié)果為:輸出Vref為1.012 V左右時,溫度系數(shù)可達4.8×10-6/℃(如圖4(a)所示),PSRR可達54 dB(如圖4(b)所示);輸出Vref1為453.7 mV左右時,溫度系數(shù)可達4.4×10-6/℃(如圖5(a)所示),PSRR為42 dB(如圖5(b)所示)。







4 結(jié)束語  

本設計是在傳統(tǒng)帶隙基準電壓源理論的基礎上,對電路進行改進而得到的高精度、輸出可調(diào)的基準電壓源,在設計中采用了一級溫度補償、電流反饋等技術,并在電路中增加了啟動電路。仿真結(jié)果顯示該設計溫度系數(shù)高,可輸出不同范圍穩(wěn)定的基準電壓,達到預期的設計目標。
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