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揭開微米級LED芯片精密檢測的秘密

發(fā)布時間：2014-12-10 14:29    發(fā)布者：wangjiamin
關(guān)鍵詞： 紅外線
本文通過現(xiàn)場案例，闡述了使用紅外熱像儀對微米級的LED芯片內(nèi)器件進行溫度檢測分析的方法，讓你更為深刻認識紅外熱像檢測小目標(biāo)的效果，一起來揭開微米級芯片精密檢測的秘密吧！
揭開微米級LED芯片精密檢測的秘密.pdf (372 KB)


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yuhuikeji 發(fā)表于 2014-12-11 09:03:29
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