隨著技術(shù)進(jìn)步以摩爾定律的速度*1快速發(fā)展,測試測量任務(wù)變得越來越困難。高性能應(yīng)用,特別是要求芯片檢定、串行數(shù)據(jù)一致性測試、光學(xué)調(diào)制分析、雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)存儲(chǔ)器和寬帶RF檢驗(yàn)的應(yīng)用,需要以前不能實(shí)現(xiàn)的測試測量功能,包括把杰出的性能(帶寬和采樣率)和靈活性(端接電壓和靈敏度)結(jié)合起來,而又不會(huì)給信號(hào)保真度帶來負(fù)面影響。 下載: ![]() |