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作者：越測越開心 EMI 定義： 電磁兼容(EMC) 包括電磁干擾(EMI) 和電磁抗擾度(EMS) 兩部分。簡而言之，EMI 是電子設(shè)備對外部電磁環(huán)境的干擾，EMS 是電子設(shè)備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無論是EMI 還是EMS，都包括輻射和傳導(dǎo)兩部分。EMC 認(rèn)證是任何電子設(shè)備必須遵從的，EMI是EMC 中的重要部分。 
EMI 測試包括 1. EMC 認(rèn)證機(jī)構(gòu)在EMC 實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證測試； 2. 企業(yè)質(zhì)檢部門利用EMI 接收機(jī)或高指標(biāo)頻譜儀進(jìn)行EMI 預(yù)認(rèn)證測試； 3. 產(chǎn)品研發(fā)、調(diào)測部門利用頻譜儀進(jìn)行EMI 診斷； 4. 產(chǎn)品研發(fā)調(diào)測部門利用示波器測試電源紋波、時(shí)鐘抖動(dòng)等特性，因?yàn)樗鼈兪钱a(chǎn)生EMI 的因素之一。 EMI 診斷 在電子設(shè)備設(shè)計(jì)、調(diào)試階段，隨時(shí)進(jìn)行EMI 診斷是保證電子設(shè)備通過EMC 認(rèn)證行之有效且費(fèi)用最低的手段。如果最終產(chǎn)品EMC 認(rèn)證不合格，設(shè)計(jì)者需要重新進(jìn)行EMI 診斷，找出EMI 問題的根源，但此時(shí)可用的整改手段已經(jīng)不多，進(jìn)行重新設(shè)計(jì)，費(fèi)用將倍增。由此可見EMI 診斷是日常工作中經(jīng)常進(jìn)行的，而EMI 預(yù)認(rèn)證以及認(rèn)證測試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進(jìn)行。有關(guān)EMI 診斷預(yù)EMI 預(yù)認(rèn)證或認(rèn)證的區(qū)別見下表。
峰值檢波與準(zhǔn)峰值檢波： EMI 認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI 標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測試，而EMI 診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI 診斷是否還有意義？由于EMI 診斷的目的是為了找出EMI 的根源，并不需要絕對精確的測試，而是需要相對的重復(fù)性好的測試。準(zhǔn)峰值檢波用來檢測信號包絡(luò)加權(quán)后的峰值( 準(zhǔn)峰值)，它根據(jù)時(shí)長和重復(fù)率對信號加權(quán)。準(zhǔn)峰值檢波的平均過程需耗費(fèi)時(shí)間，測試時(shí)間長，不利于日常診斷。由于準(zhǔn)峰值檢波測試幅度結(jié)果永遠(yuǎn)小于或等于峰值檢波的測試結(jié)果，因此在進(jìn)行EMI 診斷時(shí)，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI 問題。 EMI測試中工程師的“痛點(diǎn)”： 1. 從電路板設(shè)計(jì)開始就應(yīng)該考慮EMI 問題，但受資金限制，EMI 診斷設(shè)備往往不能配備到位。 2. 電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC 認(rèn)證測試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，僅指出輻射還是傳導(dǎo)EMI 不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI 不合格的具體位置或原因，需自行進(jìn)行EMI 診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。 3. 某些設(shè)備受環(huán)境制約無法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI 根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI 問題的基本測試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI 的根源。 4. 某些EMI 問題可以通過屏蔽方式解決，雖然可以通過EMC 認(rèn)證，但EMI 影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3 同樣的問題。 5. 隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI 問題日益增多，必須通過對EMI 周期的分析找出問題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。 6. 傳導(dǎo)類EMI 可以用示波器追蹤，同時(shí)需要用頻譜儀測試，需要兩種儀器結(jié)合運(yùn)用。 泰克基于獨(dú)特的混合域示波器的EMI測試方案： 方案：MDO4014-3 + 近場天線 + P6150 + N轉(zhuǎn)SMA 特點(diǎn)： a) 五合一，完備的示波器功能既可以滿足日常電路調(diào)測需求，還可以追蹤EMI 問題的根源；頻譜儀功能可以隨時(shí)診斷EMI 問題。 b) 具有特色的跨域分析功能，便于分析EMI 的真正根源 c) 頻譜高靈敏度、分析帶寬寬，適用于EMI 診斷測試 d) 可測試射頻幅度隨時(shí)間的變化，便于分析周期性EMI 問題產(chǎn)生的根源 e) P6150 探頭( 選配) 可直接將電路板電源或地線連接到MDO 頻譜儀射頻輸入端，測試電源紋波或地線不合理引起的EMI 問題
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