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美國(guó)國(guó)家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI）于近日發(fā)布NI PXIe-5162數(shù)字化儀，并更新了LabVIEW抖動(dòng)分析工具包。 該數(shù)字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率，它的高速測(cè)量垂直分辨率是傳統(tǒng)8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個(gè)插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個(gè)通道，適用于高通道數(shù)數(shù)字化儀系統(tǒng)的生產(chǎn)測(cè)試、研究和設(shè)備特性記述。 工程師們因此可以結(jié)合使用LabVIEW與數(shù)字化儀，以及LabVIEW抖動(dòng)分析工具包中專門為高吞吐量的抖動(dòng)、眼圖和相位噪聲測(cè)量?jī)?yōu)化過(guò)的函數(shù)庫(kù)，以滿足自動(dòng)化驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境所需。 “NI PXIe-5162數(shù)字化儀結(jié)合了高速、高通道和高分辨率測(cè)量三大特點(diǎn)，讓傳統(tǒng)的示波器用戶突破了使用傳統(tǒng)箱型儀器進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的界限，”NI模塊化儀器研發(fā)總監(jiān)Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數(shù)字化儀與LabVIEW抖動(dòng)分析工具包，可以幫助工程師借助現(xiàn)代PC的處理性能，而不是箱型示波器上傳統(tǒng)的嵌入式處理器，加快測(cè)量系統(tǒng)的速度。” NI PXIe-5162 特性 • 10位垂直分辨率，可更深入地解讀信號(hào) • 單個(gè)3U PXI Express插槽包含4個(gè)通道，在一個(gè)PXI機(jī)箱中可擴(kuò)展至68個(gè)通道 • 一個(gè)通道上5 GS/s的最大采樣率或同時(shí)使用四個(gè)通道，每通道1.25 GS/s采樣率 LabVIEW抖動(dòng)分析工具包特性 • 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)、眼圖、抖動(dòng)、電平和時(shí)域測(cè)量函數(shù) • 眼圖和掩膜測(cè)試的示例程序，以及使用雙狄拉克(dual-Dirac)和基于頻譜的分離方法，進(jìn)行隨機(jī)抖動(dòng)和確定性抖動(dòng)（RJ/ DJ）分離的示例程序 有關(guān)數(shù)字化儀的更多內(nèi)容，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)下列頁(yè)面：http://www.ni.com/digitizers/zhs/ |
