一、引言:IV特性測試的重要性與挑戰(zhàn)IV特性測試通過測量器件在不同電壓下的電流響應,揭示其電學特性(如導通電阻、閾值電壓、擊穿電壓等),是半導體研發(fā)、器件篩選及性能評估的核心環(huán)節(jié)。然而,傳統(tǒng)測試設備常面臨 ...