芯片的上電與下電功能測(cè)試是集成電路生產(chǎn)和研發(fā)過程中非常重要的一步，它可以幫助企業(yè)確保產(chǎn)品的可靠性、整合性和兼容性，同時(shí)提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。 因此在芯片的研發(fā)設(shè)計(jì)中，企業(yè)會(huì)對(duì)芯片的上下電有嚴(yán) ...
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