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標(biāo)題: 陽能硅片檢測(cè)技術(shù)--硅片的金字塔檢測(cè)-硅片檢測(cè)顯微鏡 [打印本頁(yè)]
作者: shchfang    時(shí)間: 2012-5-18 15:01
標(biāo)題: 陽能硅片檢測(cè)技術(shù)--硅片的金字塔檢測(cè)-硅片檢測(cè)顯微鏡
光伏產(chǎn)業(yè)（太陽能發(fā)電產(chǎn)業(yè)）在太陽能電池發(fā)展了50年后，終于在2004年跨越了歷史的分水嶺，正式進(jìn)入了起飛階段。隨著德國(guó)政府在2004 年1 月1 日公布再生能源法，將太陽能選為主要的替代能源，以實(shí)際措施普及太陽能發(fā)電（政府不但補(bǔ)助民間裝設(shè)太陽能模塊，更保證以一定費(fèi)率購(gòu)回電力），太陽能電池產(chǎn)業(yè)正式進(jìn)入了需求的迅猛增長(zhǎng)期。
隨著多晶硅,硅片,大陽能電池板工藝的不斷發(fā)展與提高，光伏產(chǎn)業(yè)對(duì)硅片質(zhì)量的檢測(cè)要求也越來越高。由于國(guó)外的光學(xué)檢測(cè)太貴,對(duì)非原材料生產(chǎn)廠家是一筆很大的支出,而又需要對(duì)進(jìn)的硅片進(jìn)行檢測(cè)，針對(duì)這種情況，上海長(zhǎng)方光學(xué)儀器廠開發(fā)了針硅片檢測(cè)的系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以對(duì)太陽能電池硅片的”金字塔” 的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析. (例如:上海長(zhǎng)方生產(chǎn)的硅片檢測(cè)顯微鏡:CGM-600E)例如: 硅片檢測(cè)顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測(cè)的位錯(cuò)、劃痕、崩邊等;還可以對(duì)硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等，造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產(chǎn)過程中必不可少的檢測(cè)儀器之一。CGM-600E大平臺(tái)明暗場(chǎng)硅片檢測(cè)顯微鏡是適用于對(duì)太陽能電池硅片的顯微觀察。本儀器配有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、長(zhǎng)工作距離的平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時(shí)配有偏光裝置，及其高像素的數(shù)碼攝像頭.
本儀器配有暗場(chǎng)物鏡,使觀察硅片時(shí)圖像更加清晰,是檢測(cè)太陽能電池硅片的”金字塔” 的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析的理想儀器.
上海長(zhǎng)方光學(xué)儀器廠 021- 68610299

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