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標題: 電源芯片測試系統(tǒng)助力4644 dcdc電源芯片項目測試 [打印本頁]

作者: namisoft 時間: 2024-8-1 17:57
標題: 電源芯片測試系統(tǒng)助力4644 dcdc電源芯片項目測試
電源芯片測試環(huán)境
　　測試環(huán)境是影響電源芯片測試精準度的因素之一，在測試過程中要盡量將環(huán)境干擾降到最低。通常情況下，電源芯片測試需要在以下環(huán)境下進行：
　　溫度：25±2℃
　　濕度：60%~70%
　　大氣壓強：86kPa~106kPa

　　4644電源管理芯片測試設備
　　測試電源管理芯片用到的儀器主要有：
　　直流電源
　　電子負載
　　數(shù)字萬用表
　　示波器
　　隨著對電源芯片的性能和質量要求越來越高，自動化測試系統(tǒng)已成為電源管理芯片測試的重要組成部分。在電源芯片自動化測試過程中，除了上述測試設備外，還需要一套自動測試系統(tǒng)，與測試儀器集成在一個測試柜中，完成電源芯片項目的自動化測試。

　　納米軟件在ATECLOUD測試平臺基礎上開發(fā)了NSAT-2000電源管理芯片測試系統(tǒng)，用于測試4644系列電源管理芯片以及其它電源芯片。該系統(tǒng)可兼容4644系列產品的測試，只需一套系統(tǒng)即可測試，節(jié)省了額外開發(fā)系統(tǒng)的成本。
　　為了提升測試工作效率，加快電源芯片測試速度，電源芯片測試系統(tǒng)的自動化測試柜支持兼容測試工裝，通常由測試公板和子板組成，只需替換測試子板來檢測不同規(guī)格、型號的電源芯片。

　　4644微模塊測試項目
　　完整全面檢測電源芯片的性能，一般需要測試以下項目：
　　1. 輸入電壓范圍：在測試時改變產品的輸入電壓，測量產品在設定輸入范圍內是否正常輸出。
　　2. 輸出電壓范圍：在測試時通過改變產品輸出端的分壓電阻，測量產品是否正常輸出。
　　3. 輸出紋波：測量直流電壓的交流成分和噪聲，通過測量其波形的峰峰值，判斷產品輸出的穩(wěn)定程度。其峰峰值越小，產品越穩(wěn)定。
　　4. 電壓調整率：檢測輸入電壓變化對輸出電壓的影響，電壓調整率越小說明影響越小，電源芯片性能就越穩(wěn)定。
　　5. 負載調整率：用來檢測負載變化對輸出電壓的影響，通常性能穩(wěn)定的電源芯片負載調整率較小。
　　6. 反饋端電壓：是測量每路對應的FB引腳電壓。
　　7. 欠壓關斷：在輸入電壓過低的時候，輸出就會停止工作即輸出為0，欠壓關斷就是測量輸出端停止工作時的輸入電壓，稱之為關斷點。
　　8. 欠壓恢復滯后：輸入電壓從關斷點升高至輸出恢復正常，此時恢復點和關斷點存在壓差即為欠壓恢復滯后。
　　除此之外，還需要測試輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制、啟動過沖、啟動延時、負載躍變電壓、效率測試、效率曲線等等。

　　電源芯片測試是保證電源管理芯片質量和性能的關鍵環(huán)節(jié)，在測試過程中要符合相關標準，確保測試的可靠性和準確性。電源管理芯片測試系統(tǒng)詳情具體可了解：https://www.namisoft.com/solution/dyglxpcsxt/474.html

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