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標(biāo)題: Agilent安捷倫E4982A阻抗分析儀LCR測(cè)試儀 [打印本頁(yè)]

作者: tanyan89    時(shí)間: 2023-6-15 09:50
標(biāo)題: Agilent安捷倫E4982A阻抗分析儀LCR測(cè)試儀
Agilent安捷倫E4982A阻抗分析儀LCR測(cè)試儀

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地安捷倫E4982A射頻精密LCR表 Keysight E4982A安捷倫E4982ALCR表、Agilent E4982A(安捷倫)E4982A LCR表
E4982A LCR 表,1 MHz ~ 3 GHz
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
頻率
1 MHz ~ 3 GHz,100 kHz步進(jìn)
測(cè)量時(shí)間
高速測(cè)量:0.9 ms(模式 1)、2.1 ms(模式 2)、3.7 ms(模式 3)
基本的精度和阻抗范圍
0.8% 的基本精度與無(wú)與倫比的測(cè)量可重復(fù)性
寬阻抗測(cè)量范圍:140 mΩ ~ 4.8 kΩ
更多特性
SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容
小巧的測(cè)試頭(與 4287A 的尺寸相同)
列表測(cè)量
通用 PC連通性(GPIB、LAN 和 USB)
描述
E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供性能,其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試(1 MHz ~ 3 GHz)。除了制造測(cè)試之外,E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域,借助強(qiáng)大的功能(例如列表測(cè)量)提供質(zhì)量保證。
址:深圳寶安沙井廣新生大廈






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