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標(biāo)題: 集成電路檢測(cè)方法 [打印本頁(yè)]

作者: ywwork2011 時(shí)間: 2011-2-23 12:28
標(biāo)題: 集成電路檢測(cè)方法
各位長(zhǎng)老想問(wèn)問(wèn)集成電路的檢測(cè)方法！��！
還望賜教

作者: rieman 時(shí)間: 2011-2-24 11:35
這個(gè)問(wèn)題好大！先上網(wǎng)搜索一下常規(guī)芯片（如74系列）的檢測(cè)方法再說(shuō)吧。至于模擬芯片、MCU等，那方法可是千差萬(wàn)別的呀！

作者: ywwork2011 時(shí)間: 2011-2-24 12:48
單片機(jī)芯片：如ATMEGA系列，51系列

作者: lianwazi 時(shí)間: 2011-2-26 19:43
也太大了吧�。。�

作者: leefy 時(shí)間: 2011-3-22 15:05
范圍太寬了。針對(duì)一種架構(gòu)就是一套方案，51系列說(shuō)是一種指令集，可是有12T，6T，3T，2T，1T的，架構(gòu)已經(jīng)不一樣了，反應(yīng)時(shí)序不同。
另外，目標(biāo)是什么？已知芯片測(cè)好壞？還是未知芯片測(cè)型號(hào)？
其實(shí)，測(cè)試單片芯片，就是黑匣子測(cè)試，看是否符合某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模式。

作者: liying07852 時(shí)間: 2011-3-24 08:59
我想大多數(shù)的芯片的正確與否都是根據(jù)是否能執(zhí)行正確的邏輯來(lái)定義的，檢測(cè)恐怕也是要依據(jù)這個(gè)。

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