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北京金埃譜科技比表面積及孔徑分析儀器介紹

已有 862 次閱讀2016-8-15 11:19 | 比表面積孔徑測(cè)試儀器

 比表面積及孔徑分析儀介紹

比表面積及孔徑分析儀是金埃譜自主研發(fā)的比表面積及孔徑分析儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理。相比國(guó)內(nèi)同類比表面積及孔徑分析儀,多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使儀器整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國(guó)際同類儀器先進(jìn)水平,部分功能超越國(guó)外產(chǎn)品。儀器整體設(shè)計(jì)上的完善和嚴(yán)格的產(chǎn)品制造和檢測(cè)工序,確保儀器更加符合用戶實(shí)際需求,同時(shí)V-Sorb 2800P比表面積及孔徑分析儀的高性價(jià)比有效保障了用戶的投資利益,靈活的儀器配置可滿足不同用戶的不同需求。金埃譜的比表面積及孔徑分析儀設(shè)計(jì)更多從用戶使用的角度出發(fā),使V-Sorb 2800P比表面積及孔徑分析儀具備了完全的自動(dòng)化操作,操作界面人性化,簡(jiǎn)單易學(xué);通過(guò)采用合資或進(jìn)口零配件,大大提高了儀器可靠性和使用壽命。

 

 比表面積及孔徑分析儀參數(shù)

l  測(cè)試方法:氮吸附靜態(tài)容量法;

l  主機(jī)功能:吸附及脫附等溫線測(cè)定,BJH(Barrett-Joyner-Halenda)總孔體積及孔徑分布分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK(Horvath-Kawazoe)法微孔分析, SF(Saito-Foley)法微孔分析,DRDA填充理論,CO2冰水法微孔分析,Langmuir法比表面積測(cè)定BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),平均粒徑估算,tplot圖法外比表面積測(cè)定;

l  測(cè)量范圍:0.0005(m2/g)--至無(wú)上限(比表面積); 0.35nm-2nm(微孔),2nm-500nm(中孔和大孔);0.0001 cc/g--至無(wú)上限(總孔體積) 

l  測(cè)量精度:比表面積重復(fù)精度≤±1.0%;最可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.01nm;真密度≤±0.04%;外表面積≤±1.5%;

l  真空系統(tǒng):V-Sorb獨(dú)創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分布測(cè)定的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命;

l  液位控制:V-Sorb獨(dú)創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差;

l  壓力精度:進(jìn)口硅薄膜電容式壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15%);

l  測(cè)量模式:“單一氮?dú)狻焙汀暗獨(dú)?/span>+氦氣”兩種測(cè)試模式完美結(jié)合,靈活切換,滿足不同特性樣品測(cè)試需求;

l  標(biāo)定氣體:具備可選擇使用He氣進(jìn)行冷自由空間體積標(biāo)定的功能,不能僅僅只具備采用“氮?dú)?/span>+空管”模式標(biāo)定冷自由空間;

l  分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x1060.998;

l  極限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr);

l  樣品處理:樣品處理的全過(guò)程通過(guò)軟件來(lái)自動(dòng)控制,包括溫度、時(shí)間及真空泵啟停,且具備處理開始時(shí)間的預(yù)設(shè)功能,可實(shí)現(xiàn)夜間無(wú)人值守式測(cè)試和處理樣品,大大提高工作效率;

l  樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理,樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命;

l  壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-1 Torr (0-133pa);

l  泵:進(jìn)口雙級(jí)真空泵可以實(shí)現(xiàn)外置和內(nèi)置儀器中二種放置方法,內(nèi)置儀器中可以通過(guò)軟件根據(jù)實(shí)驗(yàn)需要自動(dòng)控制真空泵啟停,從而延長(zhǎng)真空泵的壽命;

l  數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化的BET比表面積、BJH孔徑、中孔微孔分布數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表。

 

 比表面積及孔徑分析儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)

A.真空系統(tǒng)

2.         采用德國(guó)進(jìn)口的雙級(jí)真空泵,噪音小,運(yùn)行穩(wěn)定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達(dá)4x102Pa (3x104Torr)。

3.         模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),一體式集裝管路,需人工進(jìn)行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶需求按需配置及后期功能擴(kuò)展,有利于維修更換;

 

B.數(shù)據(jù)采集及處理

1.         采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的485通訊模式,有利于設(shè)備擴(kuò)展和互連,可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232USB通訊模式;

2.         多種理論計(jì)算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶提供全方位的材料分析方案;強(qiáng)大的測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理。

 

 

C.提高測(cè)試精度措施

1.         采用與同類進(jìn)口比表面積及孔徑分析儀相同品牌的高精度硅薄膜電容式壓力傳感器,壓力測(cè)量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于0.15%的全量程精度(FS)傳感器;

2.         與國(guó)外同類產(chǎn)品類似,采用01Torr01000Torr雙壓力傳感器,對(duì)測(cè)試范圍內(nèi)的壓力采用分段測(cè)量,大大降低了低真空下的測(cè)量誤差,01Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠(yuǎn)高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(jì)(一般誤差為10%-15%);

3.         獨(dú)特設(shè)計(jì)的抽氣及進(jìn)氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進(jìn)氣過(guò)程中的飛濺,確保測(cè)試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無(wú)損失,保護(hù)高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點(diǎn)和線性漂移。

 

 比表面積及孔徑分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

1.         超微粉體,納米材料,顆粒及纖維狀材料比表面積、孔徑及孔隙率等分析測(cè)定;

2.         高校及科研單位材料研究測(cè)試,吸附科學(xué)及BET,BJH等理論教學(xué)實(shí)驗(yàn);

3.         電池材料,催化劑,添加劑,吸附劑,陶瓷燒結(jié)材料,磁性材料,儲(chǔ)能材料的比表面積、孔徑大小相關(guān)性能測(cè)定;

4.         粉體材料生產(chǎn)及應(yīng)用企業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測(cè);

5.         其它與材料表面性能相關(guān)的研究工作。

 

 

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